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磁盘阵列的校验方法、装置、存储介质及电子设备
摘要文本
本申请实施例提供了一种磁盘阵列的校验方法、装置、存储介质及电子设备，其中，该方法包括：确定磁盘阵列的配置信息；基于配置信息确定磁盘阵列的目标校验时机；在达到目标校验时机的情况下，确定磁盘阵列中包括的每个目标磁盘的目标磁盘数据；基于目标磁盘数据确定磁盘阵列中包括的每个校验磁盘的目标校验数据；基于目标磁盘数据以及目标校验数据校验磁盘阵列。通过本申请，解决了相关技术中存在的校验磁盘阵列效率低的问题，达到提高磁盘阵列校验效率的效果。
申请人信息
- 申请人:苏州元脑智能科技有限公司
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
- 发明人: 苏州元脑智能科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 磁盘阵列的校验方法、装置、存储介质及电子设备 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311336476.8 |
| 申请日 | 2023/10/16 |
| 公告号 | CN117112288B |
| 公开日 | 2024/2/9 |
| IPC主分类号 | G06F11/10 |
| 权利人 | 苏州元脑智能科技有限公司 |
| 发明人 | 范晓钊; 贾晓龙; 陈静静; 刘洁; 苏衍浩 |
| 地址 | 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢 |
专利主权项内容
1.一种磁盘阵列的校验方法，其特征在于，包括：确定磁盘阵列的配置信息；基于所述配置信息确定所述磁盘阵列的目标校验时机；在达到所述目标校验时机的情况下，确定所述磁盘阵列中包括的每个目标磁盘的目标磁盘数据；基于所述目标磁盘数据确定所述磁盘阵列中包括的每个校验磁盘的目标校验数据；基于所述目标磁盘数据以及所述目标校验数据校验所述磁盘阵列；基于所述目标磁盘数据确定所述磁盘阵列中包括的每个校验磁盘的目标校验数据包括：确定每个所述目标磁盘对应的第一参数，以及每个所述校验磁盘对应的第二参数；基于所述第一参数与所述第二参数对所述目标磁盘数据进行处理，得到每个所述校验磁盘的所述目标校验数据基于所述目标磁盘数据以及所述目标校验数据校验所述磁盘阵列包括：对所述目标磁盘数据以及所述目标校验数据进行伽罗华域运算，得到运算结果；基于所述运算结果校验所述磁盘阵列；所述配置信息包括所述磁盘阵列的工作模式，所述工作模式对应所述目标校验时机。。 （来源 马克数据网）