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高反光物体表面重建方法、装置、系统及存储介质
摘要文本
本申请公开一种高反光物体表面重建方法、装置、系统及存储介质,涉及光学测量技术领域。该方法包括获取原始数据,投射结构光图案至高反光物体表面,对结构光图案进行处理,获取结构信息并进行重建和线性拟合,得到高反光物体的三维坐标;将正弦光图案反射至高反光物体表面,对正弦光图案进行求解和相位匹配,获取深度或三维形状信息;通过高反光物体的三维坐标,基于三者坐标数据,计算斜率信息,并对待测面进行重建,得到重建数据;对重建数据进行迭代重建,直到连续两次的重建结果相差小于预设值。本申请基于相位偏折术解决了漫反射重建中投影仪投射图案会因曝光问题无法全面采集和高反光中单目相位偏折术存在高度和梯度歧义性的问题。
申请人信息
- 申请人:苏州大学
- 申请人地址:215299 江苏省苏州市吴江区久泳西路1号
- 发明人: 苏州大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 高反光物体表面重建方法、装置、系统及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311698650.3 |
| 申请日 | 2023/12/12 |
| 公告号 | CN117685902A |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | G01B11/24 |
| 权利人 | 苏州大学 |
| 发明人 | 孙帆 |
| 地址 | 江苏省苏州市吴江区久泳西路1号 |
专利主权项内容
1.一种高反光物体表面重建方法,其特征在于,所述方法包括:获取原始数据,所述原始数据包括相机、投影仪和LCD屏幕的坐标标定信息;投射结构光图案至高反光物体表面,捕获高反光物体表面的结构光图案,对所述高反光物体表面的结构光图案进行处理,获取高反光物体表面的结构信息,对所述高反光物体表面的结构信息进行重建和线性拟合,得到高反光物体的三维坐标;将正弦光图案反射至高反光物体表面,采集高反光物体表面反射的正弦光图案,对所述高反光物体表面反射的正弦光图案进行求解和相位匹配,获取高反光物体表面的深度或三维形状信息;通过所述高反光物体的三维坐标,基于所述相机坐标和所述LCD屏幕坐标,计算高反光物体表面的斜率信息,基于所述高反光物体表面的斜率信息对待测面进行重建,得到重建数据;对所述重建数据进行迭代重建,直到连续两次的重建结果相差小于预设值。