一种单脉冲长延迟瞬态吸收的测量装置及方法
摘要文本
本发明公开了一种单脉冲长延迟瞬态吸收的测量装置及方法，装置包括探测激光源、分束镜、反射阶梯镜、光栅、会聚透镜、泵浦系统、样品架、成像透镜和数据记录装置；会聚透镜和成像透镜组成4f成像系统，探测激光源用于发出探测光束，分束镜位于探测光束的光路上使得通过分束镜的探测光束垂直入射在反射阶梯镜上，探测光束射在反射阶梯镜的多个反射面上反射出对应的多束探测光，光栅位于探测光的光路上将多束探测光反射入会聚透镜，样品架位于会聚透镜的焦平面上，用于放置样品，数据记录装置位于4f成像系统的像平面，泵浦系统用于将自身发出的泵浦光打到样品上；本发明通过简单光路实现对单脉冲长延迟瞬态吸收的测量。 （更多数据，详见专利查询网）
申请人信息
- 申请人:苏州大学
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市吴江区久泳西路1号
- 发明人: 苏州大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种单脉冲长延迟瞬态吸收的测量装置及方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311631895.4 |
| 申请日 | 2023/12/1 |
| 公告号 | CN117330527B |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | G01N21/31 |
| 权利人 | 苏州大学 |
| 发明人 | 杨俊义; 宋瑛林; 杨勇 |
| 地址 | 江苏省苏州市吴江区久泳西路1号 |
专利主权项内容
1.一种单脉冲长延迟瞬态吸收的测量装置，其特征在于，包括探测激光源、分束镜(2)、反射阶梯镜(3)、光栅(4)、会聚透镜(5)、泵浦系统、样品架(8)、成像透镜(10)和数据记录装置(11)，会聚透镜(5)和成像透镜(10)组成4f成像系统；所述探测激光源用于发出探测光束(1)，所述分束镜(2)设置在所述探测光束(1)的光路上使得通过分束镜(2)的探测光束(1)垂直入射在所述反射阶梯镜(3)上，所述探测光束(1)射在反射阶梯镜(3)的多个反射面上反射出对应的多束探测光，所述光栅(4)设置在所述探测光的光路上将多束探测光反射入所述会聚透镜(5)，所述样品架(8)位于会聚透镜(5)的焦平面上，用于放置样品，所述数据记录装置(11)位于所述4f成像系统的像平面，所述泵浦系统用于将自身发出的泵浦光(6)打到样品上；所述光栅(4)包括基体和多个反射槽，所述反射槽为三棱柱形状，且反射槽中两个平行的面是直角三角形，多个反射槽和基体连接形成锯齿状结构，反射槽中的反射面与基体的夹角大小设置为探测光入射到光栅(4)上的入射角大小；所述反射槽的宽度为n×数据记录装置的像素尺寸/系统放大倍数，n是每个反射槽所占像素个数，所述系统放大倍数为经过测量装置成像后的图像大小与样品大小的比值；所述反射面与基体的夹角大小为21~23°，所述光栅(4)的长度为25~50mm，所述反射槽的长度为6.7~14.3μm，所述光栅(4)的高度为12.5~50cm。