一种基于数据分析的PCBA烧录性能测试系统
摘要文本
本发明公开了一种基于数据分析的PCBA烧录性能测试系统,涉及烧录性能测试技术领域,解决了现有技术中,PCBA板在烧录程序时不能够对电路板硬件性能以及烧录前端操作进行检测的技术问题,具体为硬件性能检测单元对电路板进行硬件性能检测,将PCBA电路板标记为分析对象,并对分析对象进行硬件性能分析,获取到分析对象的硬件性能分析系数;根据硬件性能分析系数比较生成硬件性能分析异常信号或者硬件性能分析正常信号,通过智能控制分析生成智能控制低效信号或者智能控制高效信号,通过烧录性能评估单元对完成烧录的分析对象进行烧录性能评估,通过烧录性能评估生成异常烧录信号或者正常烧录信号,并将其发送至服务器。
申请人信息
- 申请人:千思跃智能科技(苏州)股份有限公司
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市吴江经济技术开发区江兴东路499号1号厂房2楼
- 发明人: 千思跃智能科技(苏州)股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于数据分析的PCBA烧录性能测试系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311353586.5 |
| 申请日 | 2023/10/19 |
| 公告号 | CN117370136A |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G06F11/34 |
| 权利人 | 千思跃智能科技(苏州)股份有限公司 |
| 发明人 | 梅志光; 陈涛; 张红江; 李祥; 黄镳 |
| 地址 | 江苏省苏州市吴江经济技术开发区江兴东路499号1号厂房2楼 |
专利主权项内容
1.一种基于数据分析的PCBA烧录性能测试系统,其特征在于,包括服务器,服务器通讯连接有硬件性能检测单元、操作影响分析单元、烧录智能控制单元以及烧录性能评估单元;硬件性能检测单元对电路板进行硬件性能检测,将PCBA电路板标记为分析对象,并对分析对象进行硬件性能分析,获取到分析对象的硬件性能分析系数;根据硬件性能分析系数比较生成硬件性能分析异常信号或者硬件性能分析正常信号,并将其发送至服务器;服务器接收到硬件性能分析正常信号后,将分析对象标记为待烧录对象,通过操作影响分析单元对待烧录对象对应烧录前的前端操作进行操作影响分析,通过操作影响分析生成操作高影响信号或者操作低影响信号,并将其发送至服务器;烧录智能控制单元对待烧录对象的烧录过程进行智能控制分析,通过智能控制分析生成智能控制低效信号或者智能控制高效信号,并将其发送至服务器;服务器接收到智能控制高效信号后,通过烧录性能评估单元对完成烧录的分析对象进行烧录性能评估,通过烧录性能评估生成异常烧录信号或者正常烧录信号,并将其发送至服务器。