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一种基于超算平台的辐射探测器点源效率计算方法及系统
摘要文本
本发明提供一种基于超算平台的辐射探测器点源效率计算方法及系统,涉及辐射测量技术领域,该方法包括建立探测器的表征模型,根据探测器模型设定各个参数变量的取值范围及递进精度,自动批量生成输入文件集并上传至超算平台;对各个能量的输入文件进行试运行,根据各自的运行时间分配不同的核心数和节点数,对不同参数的输入文件并行计算其相应的本征探测效率,生成输出文件,得到输出文件集;对输出文件集进行批量提取,提取所有文件的编号、输入参数、输出效率及不确定度生成效率库文件;基于探测器的表征模型和效率库文件,计算任意点源的探测效率,生成点源效率刻度曲线。本发明实现了辐射探测器对任意点源探测效率的快速精确计算。
申请人信息
- 申请人:苏州泰瑞迅科技有限公司
- 申请人地址:215400 江苏省苏州市太仓市陆渡街道夏家桥路28号1号楼1楼
- 发明人: 苏州泰瑞迅科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于超算平台的辐射探测器点源效率计算方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311824918.3 |
| 申请日 | 2023/12/28 |
| 公告号 | CN117473799A |
| 公开日 | 2024/1/30 |
| IPC主分类号 | G06F30/20 |
| 权利人 | 苏州泰瑞迅科技有限公司 |
| 发明人 | 马佳林; 黄艳; 蔡骏 |
| 地址 | 江苏省苏州市太仓市陆渡街道夏家桥路28号1号楼1楼 |
专利主权项内容
1.一种基于超算平台的辐射探测器点源效率计算方法,其特征在于,包括:S1:建立探测器的表征模型,根据所述探测器模型设定各个参数变量的取值范围及递进精度,自动批量生成输入文件集并上传至超算平台;S2:对各个能量的输入文件进行试运行,根据各自的运行时间分配不同的核心数和节点数,对不同参数的输入文件并行计算其相应的本征探测效率,生成输出文件,得到输出文件集;S3:对所述输出文件集进行批量提取,提取所有文件的编号、输入参数、输出效率及不确定度生成效率库文件;S4:基于所述探测器的表征模型和所述效率库文件,计算任意点源的探测效率,生成点源效率刻度曲线。