MCU上电自检电路及芯片、电子设备
摘要文本
（来 自 专利查询网） 。本发明涉及芯片设计领域，具体公开了一种MCU上电自检电路及芯片、电子设备，其中MCU包括用于给内核供电的第一LDO，上电自检电路包括：第一电压检测电路、上电检测电路、请求电路、延时重启电路和状态控制器，第一电压检测电路分别与第一LDO和上电检测电路相连，请求电路分别与上电检测电路、延时重启电路和状态控制器相连，状态控制器分别与第一LDO、第一电压检测电路、上电检测电路和延时重启电路相连。其中，第一电压检测电路和上电检测电路用于检测第一LDO是否完成上电；状态控制器、控制延时重启电路和请求电路用于控制第一LDO重新上电。该自检电路可实现针对第一LDO的上电检测和自动重启，避免MCU因第一LDO上电异常而整体重启，使MCU的工作效率较高。
申请人信息
- 申请人:苏州萨沙迈半导体有限公司; 合肥智芯半导体有限公司; 上海萨沙迈半导体有限公司; 天津智芯半导体科技有限公司
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市姑苏区锦堂街8号0600
- 发明人: 苏州萨沙迈半导体有限公司; 合肥智芯半导体有限公司; 上海萨沙迈半导体有限公司; 天津智芯半导体科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | MCU上电自检电路及芯片、电子设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311697950.X |
| 申请日 | 2023/12/12 |
| 公告号 | CN117406699A |
| 公开日 | 2024/1/16 |
| IPC主分类号 | G05B23/02 |
| 权利人 | 苏州萨沙迈半导体有限公司; 合肥智芯半导体有限公司; 上海萨沙迈半导体有限公司; 天津智芯半导体科技有限公司 |
| 发明人 | 陈岗; 陈诗卓; 张曼蓉; 周小鹏 |
| 地址 | 江苏省苏州市姑苏区锦堂街8号0600; 安徽省合肥市高新区望江西路900号中安创谷科技园一期A2栋501/502/503/505室; 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区纳贤路60弄2号3层; 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-5-1509 |
专利主权项内容
1.一种MCU上电自检电路，其特征在于，所述MCU包括用于给内核供电的第一LDO，所述上电自检电路包括：第一电压检测电路、上电检测电路、请求电路、延时重启电路和状态控制器，所述第一电压检测电路分别与所述第一LDO和所述上电检测电路相连，所述请求电路分别与所述上电检测电路、所述延时重启电路和所述状态控制器相连，所述状态控制器分别与所述第一LDO、所述第一电压检测电路、所述上电检测电路和所述延时重启电路相连，其中，所述第一电压检测电路用于检测所述第一LDO上电过程中的第一电压，并基于所述第一电压输出所述第一LDO的上电状态信号；所述上电检测电路用于基于所述上电状态信号确定所述第一LDO在第一预设时间内是否完成上电，并输出相应的上电检测信号；所述请求电路用于基于所述上电检测信号确定所述第一LDO未在第一预设时间内完成上电时，输出延时重启请求信号；所述状态控制器用于基于所述延时重启请求信号控制所述第一LDO停止上电、所述第一电压检测电路和所述上电检测电路停止工作、以及所述延时重启电路工作；所述延时重启电路用于在延时第二预设时间后输出延时重启信号；所述请求电路还用于基于所述延时重启信号输出重启请求信号；所述状态控制器还用于基于所述重启请求信号控制所述第一LDO重新上电、所述第一电压检测电路和所述上电检测电路工作、以及所述延时重启电路停止工作。 来自：