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一种数字发声芯片的一致性检测方法、装置以及系统
摘要文本
本发明公开了一种数字发声芯片的一致性检测方法、装置以及系统，涉及数字发声芯片成品检测技术领域，以提供一种能够对数字发声芯片中各个发声单元振动一致性进行检测的技术方案。所述数字发声芯片的一致性检测方法包括以下步骤：按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历，以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号；根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号，确定每个所述发声单元的一致性差异；根据每个所述发声单元的一致性差异，确定对应所述发声单元的补偿系数。 来自：马 克 团 队
申请人信息
- 申请人:地球山(苏州)微电子科技有限公司
- 申请人地址:215513 江苏省苏州市常熟经济技术开发区永嘉路99号常熟滨江国际贸易中心1幢201
- 发明人: 地球山(苏州)微电子科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种数字发声芯片的一致性检测方法、装置以及系统 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311778127.1 |
| 申请日 | 2023/12/22 |
| 公告号 | CN117459888B |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | H04R29/00 |
| 权利人 | 地球山(苏州)微电子科技有限公司 |
| 发明人 | 刘长华; 金翼泽; 袁飞洋 |
| 地址 | 江苏省苏州市常熟经济技术开发区永嘉路99号常熟滨江国际贸易中心1幢201 |
专利主权项内容
更多数据：搜索马克数据网来源： 。1.一种数字发声芯片的一致性检测方法，其特征在于，所述数字发声芯片包括多个发声单元，所述数字发声芯片的一致性检测方法包括以下步骤：按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历，以获取多个所述发声单元的声压信号以及多个所述发声单元中振膜的位移信号；根据多个所述发声单元的声压信号以及多个所述发声单元中振膜的位移信号，确定每个所述发声单元的一致性差异；根据每个所述发声单元的一致性差异，确定对应所述发声单元的补偿系数；所述根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号，确定每个所述发声单元的一致性差异包括：根据多个所述发声单元的声压信号以及多个所述发声单元中振膜的位移信号，确定所述发声单元的声压信号均值，以及位移信号均值；根据每个所述发声单元的声压信号以及所述声压信号均值，确定每个发声单元的声压信号的一致性差异；根据每个所述发声单元的位移信号以及所述位移信号均值，确定每个发声单元的位移信号的一致性差异。