← 返回列表
一种电子零部件抗干扰能力的测试装置及测试方法
摘要文本
本发明涉及抗干扰测试技术领域，尤其是一种电子零部件抗干扰能力的测试装置及测试方法，包括测试箱，所述测试箱的外侧铰接有密封门，所述测试箱的一侧连接有储存箱，所述储存箱的外侧安装有控制器，所述测试箱的内腔底端安装驱动机构，所述驱动机构的上端连接支撑机构, 所述测试箱的内腔安装有底板，所述储存箱的内腔放置有干扰组件，所述储存箱的内腔顶端安装有夹持机构，与现有的技术相比，本发明的结构设计合理，且实用性强，方便对电子零部件进行自动化的抗干扰能力的测试装置，有效的提高了工作效率，且信号接收器接收电子产品在不同强度的干扰下发射的信号，有效的提供多组数据，有效的提高了测量效果，且便于增加测试的精准度。 来自：
申请人信息
- 申请人:苏州科标检测有限公司
- 申请人地址:215300 江苏省苏州市昆山市巴城镇石牌东岳路299号3号房
- 发明人: 苏州科标检测有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种电子零部件抗干扰能力的测试装置及测试方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311333894.1 |
| 申请日 | 2023/10/16 |
| 公告号 | CN117388611A |
| 公开日 | 2024/1/12 |
| IPC主分类号 | G01R31/00 |
| 权利人 | 苏州科标检测有限公司 |
| 发明人 | 王耀华; 王子艺 |
| 地址 | 江苏省苏州市昆山市巴城镇石牌东岳路299号3号房 |
专利主权项内容
（来源 马克数据网） 。1.一种电子零部件抗干扰能力的测试装置，包括测试箱(1)，其特征在于，所述测试箱(1)的外侧铰接有密封门(2)，所述测试箱(1)的一侧连接有储存箱(3)，所述储存箱(3)的外侧安装有控制器(4)，所述测试箱(1)的内腔底端安装驱动机构(5)，所述驱动机构(5)的上端连接支撑机构(6), 所述测试箱(1)的内腔安装有底板(10)，所述储存箱(3)的内腔放置有干扰组件(7)，所述储存箱(3)的内腔顶端安装有夹持机构(8)，所述夹持机构(8)与驱动机构(5)之间相连接，所述测试箱(1)和储存箱(3)相对应的一侧安装密封组件(9)，所述密封组件(9)的外侧通过固定板(15)安装有信号接收器(16)。