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一种轨道磨耗测量方法、装置、介质及设备
摘要文本
本发明公开了一种轨道磨耗测量方法、装置、介质及设备，方法包括：获取待测轨道的点云数据和标准轨道的点云数据；待测轨道的点云数据包括第一轮廓点云数据和第二轮廓点云数据；将轮廓点云数据输入预先训练的PointNet++网络，得到轨腰点云数据；从标准轨道的点云数据中选取一个标准点，利用ICP算法进行点云配准，得到标准点的第一对应点和第二对应点；基于第一对应点和第二对应点创建投影平面，轮廓点云数据投影到投影平面，得到投影轨道的点云数据；将标准轨道的点云数据和投影轨道的点云数据进行ICP算法配准，得到待测轨道磨耗的测量结果。本发明能够得到轨道磨耗的测量值，提高了轨道测量的稳定性和准确性。
申请人信息
- 申请人:江苏集萃智能光电系统研究所有限公司
- 申请人地址:215335 江苏省苏州市昆山开发区夏东街689号10层
- 发明人: 江苏集萃智能光电系统研究所有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种轨道磨耗测量方法、装置、介质及设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311697947.8 |
| 申请日 | 2023/12/12 |
| 公告号 | CN117710304A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 江苏集萃智能光电系统研究所有限公司 |
| 发明人 | 陈仕林; 魏智鹏; 田海龙; 贺旭阳; 鲁鑫 |
| 地址 | 江苏省苏州市昆山开发区夏东街689号10层 |
专利主权项内容
1.一种轨道磨耗测量方法，其特征在于，包括：获取待测轨道的点云数据和标准轨道的点云数据；其中，待测轨道的点云数据包括第一道激光线生成的第一轮廓点云数据和第二道激光线生成的第二轮廓点云数据；将第一轮廓点云数据和第二轮廓点云数据分别输入预先训练的PointNet++网络，得到第一轮廓轨腰点云数据和第二轮廓轨腰点云数据；从标准轨道的点云数据中选取一个标准点，利用ICP算法对标准轨道的点云数据中的标准轨腰点云数据与第一轮廓轨腰点云数据、第二轮廓轨腰点云数据进行点云配准，在第一轮廓轨腰点云数据和第二轮廓轨腰点云数据中分别得到标准点的第一对应点和第二对应点；基于标准点的第一对应点和第二对应点创建投影平面，将第一轮廓点云数据和第二轮廓点云数据投影到投影平面，得到投影轨道的点云数据；将标准轨道的点云数据和投影轨道的点云数据进行ICP算法配准，得到待测轨道磨耗的测量结果。