一种光谱测量校正计算方法及系统
摘要文本
本发明涉及光谱测量技术领域,具体涉及一种光谱测量校正计算方法及系统。该方法包括:获取高光谱图像;将像素点在每个波段的点记为数据点,获取一条光谱波动曲线及其极大值点,基于此获取像素点的若干敏感波动区间;根据像素点的敏感波段区间的差异获取差值区间,获取差值区间和敏感波动区间的相似性;基于此获取每个像素点的匹配像素点;获取光谱灰度图,对光谱灰度图进行聚类构建孤立树,根据孤立树中数据点之间的距离以及数据点到孤立树的距离获取数据点的异常得分;根据数据点的异常得分进行去噪。本发明提高了对于噪声的敏感性。
申请人信息
- 申请人:昆山尚瑞智能科技有限公司
- 申请人地址:215300 江苏省苏州市昆山开发区前进东路科技广场1405室
- 发明人: 昆山尚瑞智能科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种光谱测量校正计算方法及系统 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311403596.5 |
| 申请日 | 2023/10/27 |
| 公告号 | CN117132778B |
| 公开日 | 2024/2/6 |
| IPC主分类号 | G06V10/30 |
| 权利人 | 昆山尚瑞智能科技有限公司 |
| 发明人 | 李延磊; 周春卿 |
| 地址 | 江苏省苏州市昆山开发区前进东路科技广场1405室 |
专利主权项内容
1.一种光谱测量校正计算方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:获取高光谱图像;在高光谱图像中,将像素点在每个波段的点记为数据点,根据每个像素点的数据点获取一条光谱波动曲线;获取光谱波动曲线的极大值点,根据光谱波动曲线的极大值点获取像素点的若干敏感波动区间;根据像素点的敏感波段区间的差异获取差值区间,根据差值区间内每个数据点的斜率以及敏感波段区间对差值区间的修正获取差值区间和敏感波动区间的相似性;根据差值区间和敏感波动区间的相似性获取每个像素点的匹配像素点;对于高光谱图像获取对应的光谱灰度图,对光谱灰度图进行聚类构建孤立树,根据孤立树中数据点与其余数据点的距离以及数据点到孤立树根节点的距离获取数据点的异常得分;根据每个数据点的异常得分判断数据点是否受噪声影响,并对受噪声影响的数据点进行去噪;所述根据光谱波动曲线的极大值点获取像素点的若干敏感波动区间的方法为:对于光谱波动曲线计算其导数,获取光谱波动曲线中的极大值,极大值对应的数据点记为极大指点,获取每个数据点到每个极大值点的横坐标的差以及每个数据点的斜率,将每个数据点到极大值点的横坐标的差的导数与数据点斜率的乘积记为第一乘积,将第一乘积归一化获取数据点对于极大值点的隶属度,根据数据点对于极大指点的隶属度获取敏感波动区间。