一种用于半导体生产用的自动化测试装置
摘要文本
本发明涉及固定装置技术领域，具体涉及一种用于半导体生产用的自动化测试装置，包括固定基座，所述固定基座的内部固定连接有收缩压簧，收缩压簧的顶部固定连接有连接座，连接座滑动连接于固定基座的顶部，所述固定基座的内部均匀固定连接有四个伸缩气缸。本发明通过定位座与固定基座相互靠近，并通过拨位板对半导体进行拨动，以方便对半导体进行调整固定，方便后续检测工作过程中半导体的稳定，并通过压轮与沟槽的配合，对进入沟槽内部的引脚进行滚动压平，可以将受碰撞而卷曲的引脚进行展平，通过推块的往复滑动将偏移堆叠的引脚分离，防止在进行通路检测的过程中，出现短路等问题，对测试的结果造成干扰影响。
申请人信息
- 申请人:苏州星测半导体有限公司
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市苏州工业园区和顺路58号新海宜科技园北区(2幢)A楼410室
- 发明人: 苏州星测半导体有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于半导体生产用的自动化测试装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311486621.0 |
| 申请日 | 2023/11/9 |
| 公告号 | CN117420409A |
| 公开日 | 2024/1/19 |
| IPC主分类号 | G01R31/26 |
| 权利人 | 苏州星测半导体有限公司 |
| 发明人 | 李坤; 常伟; 王智敏 |
| 地址 | 江苏省苏州市苏州工业园区和顺路58号新海宜科技园北区(2幢)A楼410室 |
专利主权项内容
1.一种用于半导体生产用的自动化测试装置，包括固定基座(1)，其特征在于：所述固定基座(1)的内部固定连接有收缩压簧(2)，收缩压簧(2)的顶部固定连接有底座(3)，底座(3)滑动连接于固定基座(1)的顶部，所述固定基座(1)的内部均匀固定连接有四个伸缩气缸(4)，伸缩气缸(4)的顶部固定连接有定位座(5)；所述定位座(5)的底部开设有定位槽(6)，定位槽(6)的内部对称滑动连接有四个拨位板(7)，定位座(5)的内部转动连接有连接齿(8)，拨位板(7)的表面固定连接有滑动板(9)，滑动板(9)与连接齿(8)啮合，连接齿(8)表面的一侧固定连接有转齿(10)，转齿(10)转动连接于定位座(5)的内部，所述固定基座(1)的顶部固定连接有四个齿杆(11)，定位座(5)的底部开设有开槽(12)，所述齿杆(11)通过开槽(12)与定位座(5)滑动连接，且所述齿杆(11)与转齿(10)啮合；定位座(5)的底部铰接有四个连接架(13)，连接架(13)的另一端固定连接有连接轴(14)，连接轴(14)的内部转动连接有转轴(15)，连接轴(14)的表面转动连接有多个压轮(16)，所述压轮(16)与转轴(15)固定连接，所述固定基座(1)的表面固定连接有四个压座(17)，压座(17)的表面均匀开设有多个沟槽(18)，所述压轮(16)通过沟槽(18)与压座(17)滑动连接。。 （）