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一种微波场的矢量测量与成像装置及方法
摘要文本
本发明公开了一种微波场的矢量测量与成像装置及方法。其中，该装置包括：激光器、外部微波发生装置、三维微波辐射装置、金刚石探针、荧光收集装置以及荧光读出装置；激光器产生的连续激光照射到金刚石探针上，用于激发金刚石探针产生连续的荧光；外部微波发生装置产生施加在金刚石探针上的辅助微波，用于测量目标微波源产生的目标微波场；荧光收集装置用于收集金刚石探针产生的荧光信号；荧光读出装置用于将接收到的荧光信号转化为电信号，以根据电信号计算微波场的矢量信息与成像信息。本发明利用金刚石中的NV色心作为金刚石探针，克服了传统测量手段的不足，能够实现对微波场的无损测量、高灵敏度与高空间分辨率的矢量测量。
申请人信息
- 申请人:中国科学技术大学苏州高等研究院
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路188号
- 发明人: 中国科学技术大学苏州高等研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种微波场的矢量测量与成像装置及方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311649012.2 |
| 申请日 | 2023/12/5 |
| 公告号 | CN117347737B |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | G01R29/08 |
| 权利人 | 中国科学技术大学苏州高等研究院 |
| 发明人 | 王哲成; 孔飞; 赵鹏举; 石发展; 杜江峰 |
| 地址 | 江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路188号 |
专利主权项内容
1.一种微波场的矢量测量与成像装置，其特征在于，包括：激光器、外部微波发生装置、三维微波辐射装置、金刚石探针、荧光收集装置以及荧光读出装置；所述激光器产生的连续激光照射到所述金刚石探针上，用于激发金刚石探针产生连续的荧光；所述外部微波发生装置产生不共面的三路辅助微波，并通过三维微波辐射装置将所述不共面的三路辅助微波施加在金刚石探针上，用于当目标微波场被施加在金刚石探针上时，通过目标微波场和辅助微波之间的干涉效应测量目标微波源产生的目标微波场；所述不共面的三路辅助微波为三路具备特定功率且幅度相位可控的微波；所述荧光收集装置用于收集金刚石探针产生的荧光信号并发送至所述荧光读出装置；所述荧光读出装置用于将接收到的荧光信号转化为电信号，以根据所述电信号计算微波场的矢量信息与成像信息。