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缺陷检测方法和装置、电子设备以及存储介质
摘要文本
本发明实施例提供一种缺陷检测方法和装置，电子设备以及存储介质。方法包括：获取待测图像；将待测图像输入经训练的图像分割网络，以确定第一位置信息，第一位置信息用于指示待测图像中至少一个第一分割区域的位置；基于第一位置信息，利用特征提取网络提取至少一个第一分割区域中每个第一分割区域所对应的待测区域特征图；对于至少一个第一分割区域中的每个第一分割区域，将该第一分割区域所对应的待测区域特征图与参考特征库中的与特定目标图像位置对应的参考区域特征图进行比较，以确定该第一分割区域内是否存在缺陷。该方案无需考虑待测图像整体的图像信息，例如待测图像的背景等，避免出现检测结果不准确或者无法检测的情况。 微信公众号专利查询网
申请人信息
- 申请人:苏州镁伽科技有限公司
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区东平街277号
- 发明人: 苏州镁伽科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 缺陷检测方法和装置、电子设备以及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311813975.1 |
| 申请日 | 2023/12/27 |
| 公告号 | CN117474917A |
| 公开日 | 2024/1/30 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 苏州镁伽科技有限公司 |
| 发明人 | 徐海俊; 韩晓 |
| 地址 | 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区东平街277号 |
专利主权项内容
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测图像；将所述待测图像输入经训练的图像分割网络，以确定第一位置信息，所述第一位置信息用于指示所述待测图像中至少一个第一分割区域的位置，所述至少一个第一分割区域与至少一个目标图像位置一一对应；基于所述第一位置信息，利用特征提取网络提取所述至少一个第一分割区域中每个第一分割区域所对应的待测区域特征图；对于所述至少一个第一分割区域中的每个第一分割区域，将该第一分割区域所对应的待测区域特征图与参考特征库中的与特定目标图像位置对应的参考区域特征图进行比较，以确定该第一分割区域内是否存在缺陷，所述特定目标图像位置为与该第一分割区域对应的目标图像位置。