缺陷分类方法和装置、电子设备以及存储介质

专利主权项内容

1.一种缺陷分类方法，其特征在于，所述方法包括：将待测图像和第一位置提示信息输入缺陷分类模型的特征提取网络，以获得所述待测图像的图像特征和位置标识特征，其中，所述第一位置提示信息用于指示所述待测图像中的缺陷区域所在的位置；将所述图像特征和所述位置标识特征输入所述缺陷分类模型的全连接神经网络，以获得缺陷分类结果，所述缺陷分类结果用于指示所述待测图像中的缺陷区域所属的类别；其中，所述缺陷分类模型为通过目标样本数据集训练获得的分类模型，所述目标样本数据集包括已标注数据和未标注数据，所述已标注数据包括多个第一样本图像以及每个第一样本图像所对应的第二位置提示信息和标注标签，所述标注标签用于指示对应的第一样本图像中的缺陷区域所属的类别，所述未标注数据包括多个第二样本图像以及每个第二样本图像所对应的第三位置提示信息，所述第二位置提示信息和/或所述第三位置提示信息通过利用半自动标注网络对对应的样本图像中的缺陷区域进行位置标注的方式获得。