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发光二极管外延片及其制备方法、LED

申请号: CN202311705484.5
申请人: 江西兆驰半导体有限公司
申请日期: 2023/12/13

摘要文本

本发明公开了一种发光二极管外延片及其制备方法、LED,所述发光二极管外延片包括衬底,所述衬底上依次设有缓冲层、非掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱层、电子阻挡层、P型GaN层;所述多量子阱层包括多个交替层叠的复合量子阱层和量子垒层,所述复合量子阱层包括依次层叠的C/Si共掺杂GaN层、氮极性GaN层、过渡InGaN层、InGaN层和InGaN/GaN盖帽层。本发明提供的发光二极管外延片能够降低多量子阱层极化效应,提高量子阱层晶体质量,提高多量子阱层的发光效率。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 发光二极管外延片及其制备方法、LED
专利类型 发明授权
申请号 CN202311705484.5
申请日 2023/12/13
公告号 CN117393667B
公开日 2024/3/12
IPC主分类号 H01L33/06
权利人 江西兆驰半导体有限公司
发明人 程龙; 郑文杰; 高虹; 刘春杨; 胡加辉; 金从龙
地址 江西省南昌市高新技术产业开发区天祥北大道1717号

专利主权项内容

1.一种发光二极管外延片,其特征在于,包括衬底,所述衬底上依次设有缓冲层、非掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱层、电子阻挡层、P型GaN层;所述多量子阱层包括多个交替层叠的复合量子阱层和量子垒层,所述复合量子阱层包括依次层叠的C/Si共掺杂GaN层、氮极性GaN层、过渡InGaN层、InGaN层和InGaN/GaN盖帽层;所述C/Si共掺杂GaN层的C掺杂浓度为1×10atoms/cm~1×10atoms/cm;173183所述C/Si共掺杂GaN层的Si掺杂浓度为1×10atoms/cm~1×10atoms/cm;173183所述过渡InGaN层的In组分沿生长方向逐渐增大;所述氮极性GaN层由GaN层经氮化处理得到。