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基于粒径级配的土水特征曲线的计算方法
摘要文本
本发明涉及一种基于粒径级配的土水特征曲线的计算方法，包括：获取待测细颗粒土或粗颗粒土的土地数据，包括：表面张力、接触角、颗粒级配、介质排列特征值、基质吸力；根据所述土地数据，计算土样的饱和度；根据所述土样的饱和度，绘制土水特征曲线。本发明的基于粒径级配的土水特征曲线的计算方法能够更加准确的描述土样的土水特征曲线，尤其是粗颗粒土的土水特征曲线，且未知参数均具有特定值和物理意义。 来源：专利查询网
申请人信息
- 申请人:华东交通大学
- 申请人地址:330013 江西省南昌市经济技术开发区双港东大街808号
- 发明人: 华东交通大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于粒径级配的土水特征曲线的计算方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311500192.8 |
| 申请日 | 2023/11/10 |
| 公告号 | CN117540133A |
| 公开日 | 2024/2/9 |
| IPC主分类号 | G06F17/11 |
| 权利人 | 华东交通大学 |
| 发明人 | 徐长节; 唐晓林; 童立红; 丁海滨; 管凌霄; 徐松 |
| 地址 | 江西省南昌市经济技术开发区双港东大街808号 |
专利主权项内容
1.一种基于粒径级配的土水特征曲线的计算方法，其特征在于，包括：获取待测细颗粒土或粗颗粒土的土地数据，包括：表面张力、接触角、颗粒级配、介质排列特征值、基质吸力；根据所述土地数据，计算土样的饱和度，满足以下公式：其中，基质吸力s＝2TCosθ/r，孔隙半径r＝λD，D为颗粒直径，T为表面张力，θ为接触角，λ为介质排列特征值，r为孔隙半径，a为第一参数，b为第二参数；ssss根据所述土样的饱和度，绘制土水特征曲线，其中，所述细颗粒土的λ和s在双对数坐标下为线性曲线，粗颗粒土的λ和s在双对数坐标下为阶梯的线性曲线。