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一种晶体生长过程中结晶检测方法及装置

申请号: CN202311374074.7
申请人: 保定景欣电气有限公司
申请日期: 2023/10/23

摘要文本

本申请公开了一种晶体生长过程中结晶检测方法及装置,该方法包括:当制备单晶硅工艺进入等径工序时,检测获得坩埚内图像;提取坩埚内图像中目标图像区域,目标图像区域包含实时监测的熔液部分;对目标图像区域进行划分,得到若干个图像块;基于每一图像块的像素值与像素阈值的比较结果,确定满足比较条件的图像块的数量;若满足比较条件的图像块的数量不小于数量阈值,生成结晶预警信息。本申请能够实时检测熔料液面,基于图像信息进行处理,在液面结晶时检测出结晶异常,生成结晶预警信息,提升了结晶检测准确性以及及时性。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种晶体生长过程中结晶检测方法及装置
专利类型 发明申请
申请号 CN202311374074.7
申请日 2023/10/23
公告号 CN117385459A
公开日 2024/1/12
IPC主分类号 C30B29/06
权利人 保定景欣电气有限公司
发明人 杨振雷; 赵杰; 赵博
地址 河北省保定市乐凯北大街3088号电谷科技中心3号楼607

专利主权项内容

1.一种晶体生长过程中结晶检测方法,其特征在于,包括:当制备单晶硅工艺进入等径工序时,检测获得坩埚内图像,所述坩埚内图像包括处于等径状态下的晶棒、熔料液面和导流筒边缘的图像特征;提取所述坩埚内图像中目标图像区域,所述目标图像区域包含实时监测的熔液部分;对所述目标图像区域进行划分,得到若干个图像块;基于每一图像块的像素值与像素阈值的比较结果,确定满足比较条件的图像块的数量;基于满足比较条件的图像块的数量,生成结晶预警信息。