← 返回列表
一种单晶硅棱线的断线检测方法、装置及电子设备
摘要文本
本申请公开了一种单晶硅棱线的断线检测方法、装置及电子设备，所述方法包括：获得单晶硅放肩过程中的待测图像；使用断线检测模型对所述待测图像进行处理，以得到所述待测图像对应的检测结果，所述检测结果表征所述待测图像中单晶硅棱线所在的区域是否存在断线；其中，所述断线检测模型通过样本图像训练得到，所述样本图像中具有样本区域，所述样本区域为单晶硅棱线所在的区域，且所述样本区域具有样本标签，所述样本标签表征所述样本区域是否存在断线。
申请人信息
- 申请人:保定景欣电气有限公司
- 申请人地址:071000 河北省保定市乐凯北大街3088号电谷科技中心3号楼607
- 发明人: 保定景欣电气有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种单晶硅棱线的断线检测方法、装置及电子设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311377158.6 |
| 申请日 | 2023/10/23 |
| 公告号 | CN117372377A |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 保定景欣电气有限公司 |
| 发明人 | 赵杰; 苑启哲; 杨振雷; 赵博 |
| 地址 | 河北省保定市乐凯北大街3088号电谷科技中心3号楼607 |
专利主权项内容
1.一种单晶硅棱线的断线检测方法，其特征在于，所述方法包括：获得单晶硅放肩过程中的待测图像；使用断线检测模型对所述待测图像进行处理，以得到所述待测图像对应的检测结果，所述检测结果表征所述待测图像中单晶硅棱线所在的区域是否存在断线；其中，所述断线检测模型通过样本图像训练得到，所述样本图像中具有样本区域，所述样本区域为单晶硅棱线所在的区域，且所述样本区域具有样本标签，所述样本标签表征所述样本区域是否存在断线。。马 克 数 据 网