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天线辐射效率测量方法、系统及电子设备
摘要文本
本申请提供一种天线辐射效率测量方法、系统及电子设备，涉及电磁场测量技术领域，该系统包括：横电磁波室和矢量网络分析仪VNA；其中，横电磁波室包括：外防护罩、金属板隔膜、第一负载端口和第二负载端口；金属板隔膜设置于外防护罩围成的腔室内，第一负载端口和第二负载端口设置于外防护罩两端；金属板隔膜上用于分别放置待测天线和参考天线；VNA的输出端口连接待测天线和参考天线的馈电端口，以提供发射信号；VNA的输入端口连接第一负载端口，获取传输信号，以基于传输信号完成天线辐射效率测量。本申请降低了测量系统的搭建难度和成本，并能实现构造成一个高度反射性的环境，提升确定天线辐射效率的精确度。
申请人信息
- 申请人:人天通信集团有限公司
- 申请人地址:050035 河北省石家庄市高新区黄河大道136号科技中心16层A区
- 发明人: 人天通信集团有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 天线辐射效率测量方法、系统及电子设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311336054.0 |
| 申请日 | 2023/10/16 |
| 公告号 | CN117590092A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G01R29/10 |
| 权利人 | 人天通信集团有限公司 |
| 发明人 | 蒋凯; 黄漪; 肖飞 |
| 地址 | 河北省石家庄市高新区中山东路856号科技中心2号楼9层 |
专利主权项内容
1.一种天线辐射效率测量系统，其特征在于，包括：横电磁波室和矢量网络分析仪VNA；其中，所述横电磁波室包括：外防护罩、金属板隔膜、第一负载端口和第二负载端口；所述金属板隔膜设置于所述外防护罩围成的腔室内，所述第一负载端口和第二负载端口设置于所述外防护罩两端；所述金属板隔膜上用于分别放置待测天线和已知辐射效率的参考天线；所述VNA的输出端口连接待测天线和所述参考天线的馈电端口，以向所述待测天线和所述参考天线提供发射信号；所述VNA的输入端口连接所述第一负载端口，获取传输信号，以基于所述待测天线对应的传输信号的散射参数采集结果，和，所述参考天线对应的传输信号的散射参数采集结果完成天线辐射效率测量。