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一种基于模拟IC拓扑结构微调的电路性能建模方法与装置
摘要文本
本发明提供了一种基于模拟IC的电路性能建模方法，基于模拟IC，确定若干不同的微调拓扑结构；结合模拟IC的元器件参数拓展对象与元器件参数拓展范围，形成统一的采样空间，采样形成多个不同的参数值组合，并将其分别转化为参数化电路网表；仿真获取电路性能，建立电路参数与电路性能的映射；采用人工神经网络作为性能建模的模型并使用超参数优化方法实现自动建模。本发明还提供了一种基于模拟IC的电路性能建模的装置。相比现有技术，本发明建模模型能够更快的计算更接近于实际情况的电路性能。 该数据由<马克数据网>整理
申请人信息
- 申请人:贝叶斯电子科技(绍兴)有限公司; 杭州四维映射软件有限公司; 芯格(上海)微电子有限公司
- 申请人地址:312000 浙江省绍兴市越城区皋埠街道银桥路326号(原永和酒业)内3幢3楼303室
- 发明人: 贝叶斯电子科技(绍兴)有限公司; 杭州四维映射软件有限公司; 芯格(上海)微电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于模拟IC拓扑结构微调的电路性能建模方法与装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311829108.7 |
| 申请日 | 2023/12/28 |
| 公告号 | CN117473931A |
| 公开日 | 2024/1/30 |
| IPC主分类号 | G06F30/367 |
| 权利人 | 贝叶斯电子科技(绍兴)有限公司; 杭州四维映射软件有限公司; 芯格(上海)微电子有限公司 |
| 发明人 | 方刚; 赵镇鑫; 董威; 刘焕宇; 冯烽; 孙明辉 |
| 地址 | 浙江省绍兴市越城区皋埠街道银桥路326号(原永和酒业)内3幢3楼303室; 浙江省杭州市余杭区五常街道高顺路8号1幢394室; 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区纳贤路800号1幢A座6楼611-B室 |
专利主权项内容
1.一种基于模拟IC拓扑结构微调的电路性能建模方法，其特征在于：包含以下步骤：S1、拓展微调拓扑结构：基于需要进行电路性能建模的模拟IC，确定若干不同的微调拓扑结构参数及其拓展范围；S2、拓展电路参数：确定所述模拟IC的元器件参数拓展对象与元器件参数拓展范围，与微调拓扑结构参数结合，形成统一的采样空间；S3、仿真数据采集：基于步骤S1中的微调拓扑结构参数、S2中的电路参数以及所述采样空间，采样形成多个不同的参数值组合，并将其分别转化为参数化电路网表；S4、仿真映射：基于参数化电路网表开展仿真，得到其对应的电路性能，建立电路参数与电路性能的映射；S5、优化建模：基于优化算法，得到考虑拓扑结构微调的电路性能模型。