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恒温晶振温度补偿方法及装置
摘要文本
本发明提供一种恒温晶振温度补偿方法及装置，其方法包括：获取晶振频率准确度与热敏电阻的电压在预设温度下的对应关系；获取所述晶振频率准确度与所述晶振压控端DAC变化之间的第二关系；根据待调整晶振的环境温度以及所述对应关系，确定所述晶振需补偿的频率准确度；根据所述晶振需补偿的频率准确度及所述第二关系，确定所述晶振压控端的电压补偿量；根据所述电压补偿量对所述待调整晶振进行电压补偿。本发明通过构建不同温度下晶振频率准确度与传感器的热敏电阻的电压之间的关系，根据实际温度下的实际电压确定晶振需补偿的频率准确度，进而确定需要对晶振补偿的电压补偿量，通过调节电压实现对晶振频率的精准补偿。。来源：百度搜索马克数据网
申请人信息
- 申请人:武汉非秒迅连科技有限公司
- 申请人地址:430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号武汉未来科技城龙山创新园一期F3栋18楼1802室
- 发明人: 武汉非秒迅连科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 恒温晶振温度补偿方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311476619.5 |
| 申请日 | 2023/11/8 |
| 公告号 | CN117353732A |
| 公开日 | 2024/1/5 |
| IPC主分类号 | H03L1/02 |
| 权利人 | 武汉非秒迅连科技有限公司 |
| 发明人 | 罗翔; 罗鹏; 姚伟华; 叶露; 姜水 |
| 地址 | 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号武汉未来科技城龙山创新园一期F3栋18楼1802室 |
专利主权项内容
1.一种恒温晶振温度补偿方法，其特征在于，包括：获取晶振频率准确度与热敏电阻的电压在预设温度下的对应关系；获取所述晶振频率准确度与所述晶振压控端DAC之间的第二关系；根据待调整晶振的热敏电阻的实际电压以及所述对应关系，确定所述晶振需补偿的频率准确度；根据所述晶振需补偿的频率准确度及所述第二关系，确定所述晶振压控端的电压补偿量；根据所述电压补偿量对所述待调整晶振进行电压补偿。