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密封环可靠性的评估方法

申请号: CN202311125674.X
申请人: 湖北江城实验室科技服务有限公司
申请日期: 2023/8/31

摘要文本

本申请实施例提供一种密封环可靠性的评估方法,该方法包括:根据密封环实际结构构建密封环的仿真模型;仿真模型至少包括沿第一方向延伸、沿第二方向堆叠的多层金属层,以及位于相邻两层所述金属层的金属过孔;定义仿真模型的测试应力和测试温度;在一定测试温度下,向仿真模型的受力面施加不同方向的测试应力,以确定密封环中金属层的形变性能;其中,仿真模型的受力面与第一方向和第二方向构成的平面平行;在形变性能满足预设条件的情况下,确认密封环的可靠性满足要求。。来源:百度马 克 数据网

专利详细信息

项目 内容
专利名称 密封环可靠性的评估方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311125674.X
申请日 2023/8/31
公告号 CN117371171A
公开日 2024/1/9
IPC主分类号 G06F30/20
权利人 湖北江城实验室科技服务有限公司
发明人 陈珍; 谢冬; 姜玉丽; 江仲开
地址 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区光谷一路227号3号楼2号(自贸区武汉片区)

专利主权项内容

1.一种密封环可靠性的评估方法,其特征在于,所述方法包括:根据密封环实际结构构建所述密封环的仿真模型;所述仿真模型至少包括沿第一方向延伸、沿第二方向堆叠的多层金属层,以及位于相邻两层所述金属层的金属过孔;定义所述仿真模型的测试应力和测试温度;在所述测试温度下,向所述仿真模型的受力面施加所述测试应力,以确定所述密封环中所述金属层的形变性能;其中,所述仿真模型的受力面与所述第一方向和所述第二方向构成的平面平行;在所述形变性能满足预设条件的情况下,确认所述密封环的可靠性满足要求。