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一种QKD系统及提升QKD成码率的方法

申请号: CN202311348015.2
申请人: 中国长江三峡集团有限公司
申请日期: 2023/10/16

摘要文本

本发明涉及量子密钥分发技术领域,公开了一种QKD系统及提升QKD成码率的方法,系统的发送端将同步光分束后测量得到第一光功率测量值,并通过经典信道发送至接收端及通过量子信道与接收端进行量子光序号同步;接收端通过经典信道对接收的同步光分束后测量得到第二光功率测量值并计算两者的差值,基于差值和标称单光子水平得到当前进入单光子探测器的单光子水平,根据单光子水平及单光子水平与死时间参数的对应关系得到死时间参数,在每次响应光子探测后在时间长度为死时间参数的范围内关闭门信号。本发明能实时自动、准确地调节QKD接收端的单光子探测器的死时间参数,使QKD系统能自适应信道衰减的变化始终保持高成码率性能。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种QKD系统及提升QKD成码率的方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311348015.2
申请日 2023/10/16
公告号 CN117411624A
公开日 2024/1/16
IPC主分类号 H04L9/08
权利人 中国长江三峡集团有限公司
发明人 金和平; 王景晗; 罗惠恒; 李德龙; 吴文杰
地址 湖北省武汉市江岸区六合路1号

专利主权项内容

1.一种QKD系统,其特征在于,包括:QKD发送端和QKD接收端,其中:QKD发送端用于将同步光进行分束后对光功率进行测量得到第一光功率测量值,并将第一光功率测量值通过经典信道发送至QKD接收端以及通过量子信道与QKD接收端进行量子光的序号同步;QKD接收端用于通过经典信道对接收的同步光进行分束后对光功率测量得到第二光功率测量值,计算第二光功率测量值和第一光功率测量值的差值,并基于第二光功率测量值和第一光功率测量值的差值和预设标称单光子水平,得到当前进入单光子探测器的单光子水平,根据当前进入单光子探测器的单光子水平以及单光子水平与死时间参数的预设对应关系得到死时间参数,并在每次响应光子探测后,在时间长度为死时间参数的范围内关闭门信号。