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一种土壤样本检测前置处理方法及装置

申请号: CN202311341857.5
申请人: 武汉智惠国测检测科技有限公司
申请日期: 2023/10/17

摘要文本

本发明公开一种土壤样本检测前置处理方法及装置,涉及土壤样本的处理技术领域,采用电脑可视化自动控制模块对土壤样本检测前置处理进行全程视觉监视,并根据视觉监视分析结果进行自动化控制;土壤样本检测前置处理包括以下步骤:将自然风干的待制备土壤样品经过样品投入口投入,电脑可视化自动控制模块在样品投入口处进行视觉监测,采用视觉分析算法计算待制备土壤样品的平均粒径数据。本发明实现了采用电脑和视觉相机结合的方式,对土壤样本检测前置处理各个步骤进行可视化监控,并基于监控的画面分析结果,对于各个处理环节进行更加精准地自动化控制,可通过调整装置不同执行器的执行动作,实现研磨参数的设置。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种土壤样本检测前置处理方法及装置
专利类型 发明申请
申请号 CN202311341857.5
申请日 2023/10/17
公告号 CN117419983A
公开日 2024/1/19
IPC主分类号 G01N1/28
权利人 武汉智惠国测检测科技有限公司
发明人 袁莉; 宋丹桥; 刘曦; 朱思颖; 李攀; 周恒; 张小莉; 王锐
地址 湖北省武汉市江岸区汉黄路888号岱家山科技创业城5号楼F楼

专利主权项内容

1.一种土壤样本检测前置处理方法,其特征在于:采用电脑可视化自动控制模块(1)对土壤样本检测前置处理进行全程视觉监视,并根据视觉监视分析结果进行自动化控制;土壤样本检测前置处理包括以下步骤:步骤1,将自然风干的待制备土壤样品经过样品投入口投入,电脑可视化自动控制模块(1)在样品投入口处进行视觉监测,采用视觉分析算法计算待制备土壤样品的平均粒径数据;步骤2,电脑可视化自动控制模块(1)根据平均粒径数据和研磨目标粒径数据控制研磨机构(2)的执行动作;步骤3,电脑可视化自动控制模块(1)在研磨机构(2)的出口处获取研磨后土壤样品画面,采用视觉分析算法计算研磨后土壤样品的平均粒径数据;步骤4,设置粒径差异度阈值,比较研磨后土壤样品的平均粒径数据与研磨目标粒径数据进行差异度比对,比对结果小于粒径差异度阈值,则输送到打包机构进行打包,比对结果大于等于粒径差异度阈值,则控制该批次进行二次研磨。