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显示响应信号采集、测量系统及方法
摘要文本
本发明公开了一种显示响应信号采集、测量系统及方法，包括：至少一个通道的第一显示信号采集装置，用于获取至少一个显示区域的显示信号；第一处理电路，用于获取至少一个通道显示信号，从显示信号中提取生成与显示信号频率对应的第一时序信号，第一时序信号用于从显示信号中解析显示响应信号。按照本发明实现的显示响应信号采集、测量系统及方法，优化了显示面板生产过程中实时测试产品的响应时间测试过程，提升了响应时间测试准确度，降低了响应时间测试系统的复杂度和成本。
申请人信息
- 申请人:武汉精一微仪器有限公司
- 申请人地址:430070 湖北省武汉市洪山区青菱乡都市工业园南郊路8号德成国际文化创意软件园D2-27幢1单元5层501-502号(企赢众创空间-175号)
- 发明人: 武汉精一微仪器有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 显示响应信号采集、测量系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311854824.0 |
| 申请日 | 2023/12/29 |
| 公告号 | CN117496850A |
| 公开日 | 2024/2/2 |
| IPC主分类号 | G09G3/00 |
| 权利人 | 武汉精一微仪器有限公司 |
| 发明人 | 肖恩桥; 秦明; 梁红军; 谷巍; 吴明华; 张必武 |
| 地址 | 湖北省武汉市洪山区青菱乡都市工业园南郊路8号德成国际文化创意软件园D2-27幢1单元5层501-502号(企赢众创空间-175号) |
专利主权项内容
1.一种显示响应信号采集系统，其特征在于，包括：至少一个通道的第一显示信号采集装置，用于获取至少一个显示区域的显示信号；第一处理电路，用于获取至少一个通道所述显示信号，从所述显示信号中提取生成与所述显示信号频率对应的第一时序信号，所述第一时序信号用于从所述显示信号中解析所述显示响应信号；所述显示信号，包含对应所述显示区域在任一显示驱动信号的显示信息；所述第一显示信号采集装置，响应任一采集驱动信号执行所述显示信号采集；所述显示驱动信号与所述采集驱动信号同步或不同步。