一种用于双线结构光三维测量的点云配准方法及系统
摘要文本
本发明公开了一种用于双线结构光三维测量的点云配准方法及系统,该方法包括以下步骤:获取待测工件两个角度的三维点云P和Q;分别对三维点云P和Q进行自适应栅格采样处理,得到降采样后的三维点云P和Q,并通过求解采样点加权协方差矩阵并设定自适应阈值提取特征点;使用特征描述子记录特征点的特征,找到特征相似的特征点点对,对降采样后的三维点云P和Q进行粗配准;计算特征点点对的法向量夹角,根据夹角分布概率定义熵函数并设定熵阈值剔除误匹配点;利用剔除误匹配点的特征点点对进行精配准,得到待测工件的配准点云。本发明基于自适应栅格采样进行点云精简处理和设立熵函数来剔除误匹配点,使得整个配准过程计算速度更快,匹配更准确。。百度搜索马 克 数 据 网
申请人信息
- 申请人:武汉工程大学
- 申请人地址:430074 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号
- 发明人: 武汉工程大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于双线结构光三维测量的点云配准方法及系统 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311670134.X |
| 申请日 | 2023/12/7 |
| 公告号 | CN117372489B |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | G06T7/33 |
| 权利人 | 武汉工程大学 |
| 发明人 | 洪汉玉; 杨喻琨; 叶亮; 章秀华; 王家乐; 吕瑞衡 |
| 地址 | 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号 |
专利主权项内容
1.一种用于双线结构光三维测量的点云配准方法,其特征在于,包括以下步骤:获取待测工件两个角度的三维点云P和Q;分别对三维点云P和Q进行自适应栅格采样处理,得到降采样后的三维点云P和Q,并通过求解采样点加权协方差矩阵并设定自适应阈值提取特征点;利用特征描述子记录特征点的特征,以找到对应的特征点点对,对降采样后的三维点云P和Q进行粗配准;计算特征点点对的法向量夹角,根据夹角分布概率定义熵函数并设定熵阈值剔除误匹配点;包括:计算特征点点对的法向量夹角,并分为若干个区间;统计每个区间内的夹角数目,并计算每个区间内所有夹角的概率密度:其中,P是第i′个区间内夹角j′的概率密度,使用概率密度P计算每个区间的熵,定义熵函数为:i′j′i′j′其中,m′为区间内角度数量;根据计算得到的每个区间的熵并比较大小,熵越小则表示该区间匹配可靠性高,根据算出来的每个区间的熵值,计算一个平均值设为熵阈值,熵阈值选取依次递减,直到达到要求停止递减,确定最佳熵阈值,把大于该熵阈值的区间点都剔除;熵阈值设置方法如下:(1)根据计算得到的每个区间的熵值,得到一个熵值数组M={e, e...e},其中n1是区间数量;12n1(2)计算熵值数组的平均值m1;(3)设定一个熵阈值T=m1,计算大于熵阈值T的区间数量并剔除:其中[x]为示性函数,表示当x成立时取值为1,否则为0;h从1至n1;(4)如果k1<α1*n1或不再变化则停止递减,T即为最佳熵阈值,其中α1是预设阈值;(5)否则,将阈值T递减一个步长δ;利用剔除误匹配点的特征点点对进行精配准,得到待测工件的配准点云。