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一种基于径向基函数的三坐标叶片截面重构方法
摘要文本
本发明公开了一种基于径向基函数的三坐标叶片截面重构方法，属于叶片型面轮廓测量与叶片加工质量检测领域，该方法包括：将对叶片截面进行三坐标测量得到的初始数据沿叶片轮廓顺序排列后进行加密，再从三坐标测量仪坐标系转换至目标坐标系下；基于径向基函数对坐标系转换后的数据沿法线方向进行补偿；对补偿后的数据进行拟合，得到所述叶片截面最终的重构曲线。该方法引入径向基函数对测球的半径进行补偿，能够更好地消除测球在测量叶片表面坐标时自身半径以及叶片扭转对测量结果造成的误差，提高叶片截面扫描中的半径补偿精度，从而校核叶片形状型面轮廓。
申请人信息
- 申请人:华中科技大学
- 申请人地址:430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 发明人: 华中科技大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于径向基函数的三坐标叶片截面重构方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311185823.1 |
| 申请日 | 2023/9/14 |
| 公告号 | CN117372554A |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G06T11/00 |
| 权利人 | 华中科技大学 |
| 发明人 | 张桢; 舒力力; 郭凯; 李聪; 安瑾倬; 闫子航; 李燚之; 刘冲 |
| 地址 | 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |
专利主权项内容
1.一种基于径向基函数的三坐标叶片截面重构方法，其特征在于，包括：S1，将对叶片截面进行三坐标测量得到的初始数据沿叶片轮廓顺序排列后进行加密，以降低其稀疏度；S2，将加密后的数据从三坐标测量仪坐标系转换至目标坐标系下；其中，所述目标坐标系以O为原点且P或Q位于x轴的正半轴上，O及P、Q分别为叶片截面初始曲线的凹面顶点及左、右端点，所述叶片截面初始曲线为对加密后的数据进行拟合得到；000000S3，基于径向基函数对坐标系转换后的加密数据进行法向补偿；其中，对于任一待补偿的数据其补偿量为/>R为测球半径，k＝1～N，N为加密后的数据个数，/>为坐标系基矢量，A为补偿使用的径向基函数个数，φ(·)为径向基函数，d为其系数，j＝1～A，A≥N；0jjS4，对补偿后的数据进行拟合，得到所述叶片截面最终的重构曲线。