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一种基于DEIS技术的锂离子电池阻抗分析的析锂检测方法

申请号: CN202311531023.0
申请人: 湖北工业大学
申请日期: 2023/11/16

摘要文本

本发明涉及锂离子电池析锂检测技术领域,且公开了一种基于DEIS技术的锂离子电池阻抗分析的析锂检测方法,具体步骤如下:在温度T下对已析锂锂离子电池进行充放电,分别为充电阶段C1和放电阶段D,并在充电阶段C1的充电电流上叠加正弦电流,采集全频域动态阻抗谱,本发明提出一种基于DEIS技术的锂离子电池阻抗分析的析锂检测方法,在充电过程中,实时跟踪电池不同荷电状态状态下电池低频阻抗虚部的变化,如果在恒流充电早期低频阻抗虚部出现谷值特征点,则表明在该条件下析锂已经发生,因此,可以通过监测低频阻抗虚部来实时检测析锂的开始,与现有技术相比在不拆解电池的前提下判断锂离子电池是否发生析锂现象。 来源:百度搜索马克数据网

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于DEIS技术的锂离子电池阻抗分析的析锂检测方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311531023.0
申请日 2023/11/16
公告号 CN117347886A
公开日 2024/1/5
IPC主分类号 G01R31/385
权利人 湖北工业大学
发明人 常春; 陈晋升; 易翔; 姜久春; 田爱娜; 高洋; 姜研
地址 湖北省武汉市洪山区南李路28号

专利主权项内容

1.一种基于DEIS技术的锂离子电池阻抗分析的析锂检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:在温度T下对已析锂锂离子电池进行充放电,分别为充电阶段C和放电阶段D,并在充电阶段C的充电电流上叠加正弦电流,采集全频域动态阻抗谱;11S2:提取S1中充电阶段C全频域动态阻抗谱的低频阻抗片段,选取低频阻抗片段中的阻抗虚部值和频率关系曲线图,根据阻抗虚部值和频率关系曲线图中曲线的变化,通过最大差值法筛选出析锂特征频率;1S3:在温度T下以不同充电倍率C对正常锂离子电池进行充电,充电阶段C每间隔2%荷电状态采集基于析锂特征频率的阻抗数据Z;r2S4:根据S3中充电阶段C的阻抗数据Z通过自动多尺度谷值查找算法寻找不同充电倍率C下阻抗虚部值与荷电状态关系曲线的谷峰K;2rS5:若阻抗虚部值与荷电状态关系曲线在荷电状态阈值段T出现谷峰K则判断电池析锂,若阻抗虚部值与荷电状态关系曲线在荷电状态阈值段T未出现谷峰K则判断电池未析锂。。(来 自 马 克 数 据 网)