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一种基于线扫描的集料形态与粒径连续分析装置及方法
摘要文本
本发明公开了一种基于线扫描的集料形态与粒径连续分析装置及方法，涉及集料的形态与粒径分析领域。包括设置于集料输送台上端的支撑机构，支撑机构上方设置有输送机构，且在输送机构进料端上方设置有入料机构，出料端设置有拍摄机构；入料机构包括入料斗和料斗支架，料斗支架下端设置有取料机构，所述拍摄机构包括架设于支撑机构上的机构支架，所述机构支架上端通过相机支架设置有线阵相机。本发明克服了现有技术的不足，能够提高集料分析的速度，实现集料样品的大批量自动化分析，满足施工现场对集料现场实时分析的需求，具有自动化程度高、可重复性好、应用场景多等特点。
申请人信息
- 申请人:华中科技大学
- 申请人地址:430070 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 发明人: 华中科技大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于线扫描的集料形态与粒径连续分析装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311641890.X |
| 申请日 | 2023/12/4 |
| 公告号 | CN117740675A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G01N21/01 |
| 权利人 | 华中科技大学 |
| 发明人 | 高琳; 受国振; 苗雨; 刘华北; 王栋; 蒋津 |
| 地址 | 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |
专利主权项内容
1.一种基于线扫描的集料形态与粒径连续分析装置，包括设置于集料输送台上端的支撑机构(5)，其特征在于：所述支撑机构(5)上方平行于集料输送台设置有输送机构(3)，且在输送机构(3)进料端上方设置有入料机构(2)，在输送机构(3)出料端设置有拍摄机构(4)；所述入料机构(2)包括通过料斗支架(22)架设于支撑机构(5)上的入料斗(21)，且入料斗(21)位于输送机构(3)进料端正上方，所述料斗支架(22)下端设置有取料机构(1)，所述取料机构(1)包括料铲斗(11)和两端转动连接的料铲臂(13)，所述料斗支架(22)下端两侧设置有侧板(15)，所述料铲臂(13)一端与侧板(15)之间通过第二电动转轴(14)转动连接，所述料铲臂(13)另一端通过第一电动转轴(12)与料铲斗(11)侧边转动连接，且料铲臂(13)带动料铲斗(11)从集料输送台上旋转至入料斗(21)上方；所述拍摄机构(4)包括架设于支撑机构(5)上的机构支架(45)，所述机构支架(45)上端通过相机支架(43)设置有线阵相机(41)，所述线阵相机(41)位于输送机构(3)出料端正上方。