涡旋光束拓扑荷数测量系统、方法、装置、设备及介质

专利主权项内容

1.一种涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在于，所述涡旋光束拓扑荷数测量系统包括：激光发射单元、分光板、第一反射镜、第二反射镜和测量单元；所述激光发射单元，用于产生涡旋光束，并将待测的涡旋光束发射至所述分光板；所述分光板，用于将所述涡旋光束分束为反射涡旋光和透射涡旋光；所述反射涡旋光反射至所述第一反射镜，通过所述第一反射镜反射至所述分光板的半透半反射膜后，所述反射涡旋光透射为第一涡旋光；所述透射涡旋光透射至所述第二反射镜，通过所述第二反射镜反射至所述分光板的半透半反射膜后，所述透射涡旋光反射为第二涡旋光；所述测量单元，用于采集所述第一涡旋光和所述第二涡旋光之间的目标干涉图像，并对所述目标干涉图像进行分析，确定涡旋光拓扑荷数；所述涡旋光束拓扑荷数测量系统，还包括：补偿板，所述补偿板设置在所述分光板与所述第二反射镜之间；所述补偿板，用于对所述分光板透射的透射涡旋光的光程进行补偿，并将补偿后的所述透射涡旋光传递至所述分光板的半透半反射膜。