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一种高压气体循环条件下的密封圈耐久性能测试系统

申请号: CN202410059313.8
申请人: 浙江大学
申请日期: 2024/1/16

摘要文本

本申请公开了一种高压气体循环条件下的密封圈耐久性能测试系统,包括测试工装和充排气装置,测试工装包括:密封筒,其形成有内腔;活塞轴,其滑动设置于内腔内,活塞轴上沿其轴向至少设置有一组测试槽,一组测试槽包括沿活塞轴的轴向依次排布的第一测试环槽、验证凹槽以及第二测试环槽;设置于内腔内且分别抵压于活塞轴的两端的第一弹性件和第二弹性件;检测传感器组,其包括伸入至验证凹槽内的第一目标气体传感器;活塞轴能够与待测试密封圈相配合将内腔分隔为第一密封腔和第二密封腔,充排气装置与第一密封腔以及第二密封腔分别密封连通以进行充排气操作。应用本申请能够提升测试效率、提高测试准确性并增加测试项目。 来自-官网

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种高压气体循环条件下的密封圈耐久性能测试系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410059313.8
申请日 2024/1/16
公告号 CN117571212A
公开日 2024/2/20
IPC主分类号 G01M3/04
权利人 浙江大学
发明人 杨苗苗; 彭文珠; 花争立; 陈琪; 施建峰; 郑津洋
地址 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

专利主权项内容

1.一种高压气体循环条件下的密封圈耐久性能测试系统,其特征在于,所述密封圈耐久性能测试系统包括测试工装(1)和充排气装置,所述测试工装(1)包括:密封筒,其形成有内腔;活塞轴(13),其滑动设置于所述内腔内,所述活塞轴(13)上沿其轴向至少设置有一组测试槽,一组所述测试槽包括沿活塞轴(13)的轴向依次排布的第一测试环槽、验证凹槽以及第二测试环槽,所述第一测试环槽和第二测试环槽均用于装配待测试密封圈;第一弹性件(14),其设置于内腔内且抵压于活塞轴(13)的一端;第二弹性件(15),其设置于内腔内且抵压于活塞轴(13)的另一端;以及,检测传感器组,其包括第一目标气体传感器(16),所述第一目标气体传感器(16)的检测端伸入至所述验证凹槽内;其中,所述活塞轴(13)能够与待测试密封圈相配合将内腔分隔为第一密封腔(100)和第二密封腔(101),所述充排气装置与所述第一密封腔(100)以及所述第二密封腔(101)分别密封连通以进行充排气操作。