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光电协同催化半导体原子刻蚀的异质工具制备及刻蚀方法
摘要文本
本发明公开了一种光电协同催化半导体原子刻蚀的异质工具制备及刻蚀方法,属于半导体材料原子及近原子尺度极端制造领域,该异质工具通过以下方式制备:以纳米级尖端半径的工具为基底,端沉积黏附层;在黏附层外构建均相掺杂异质结构光电催化薄膜或层状界面异质结构光电催化薄膜,进行热处理得到光电协同催化半导体原子刻蚀的异质工具。刻蚀时,通过光纤引入催化光源,辐照至催化工具表面调控其原子刻蚀效果。本发明依靠界面光电协同催化化学反应去除材料,不会产生亚表面缺陷损伤及裂纹,通过构建异质结构光电催化薄膜抑制电子空穴对复合,增加光生载流子寿命,形成新的反应活性位点,提高光电催化反应速率以增强半导体材料原子刻蚀效果。
申请人信息
- 申请人:浙江大学
- 申请人地址:310012 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
- 发明人: 浙江大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 光电协同催化半导体原子刻蚀的异质工具制备及刻蚀方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410245124.X |
| 申请日 | 2024/3/5 |
| 公告号 | CN117819473A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | B82B3/00 |
| 权利人 | 浙江大学 |
| 发明人 | 朱吴乐; 吴思东; 孙奇; 韩放; 高威; 薛曹阳; 赵翔; 贾炳春; 王靖远; 张伟建; 居冰峰 |
| 地址 | 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号 |
专利主权项内容
1.一种光电协同催化半导体原子刻蚀的异质工具制备方法,其特征在于:其包括以下步骤:S1.以具有纳米级尖端半径的工具为基底,在工具尖端沉积黏附层;S2.在黏附层外构建均相掺杂异质结构光电催化薄膜或层状界面异质结构光电催化薄膜;S3.对工具进行热处理,得到光电协同催化半导体原子刻蚀的异质工具。