毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法
申请人信息
- 申请人:清华大学; 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址:100084 北京市海淀区清华园1号
- 发明人: 清华大学; 同方威视技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811654169.3 |
| 申请日 | 2018年12月29日 |
| 公告号 | CN109444977B |
| 公开日 | 2024年4月5日 |
| IPC主分类号 | G01V8/10 |
| 权利人 | 清华大学; 同方威视技术股份有限公司 |
| 发明人 | 赵自然; 游燕; 李元景; 马旭明; 武剑; 金颖康 |
| 地址 | 北京市海淀区清华大学; 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
摘要文本
清华大学; 同方威视技术股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法，包括准光学组件和毫米波/太赫兹波探测器阵列，准光学组件适用于将第一被检对象和第二被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括反射板，第一被检对象和第二被检对象分别位于反射板的相对侧处，反射板能够绕水平轴线转动以分别接收并反射来自第一被检对象位于第一视场不同竖直位置的部分的波束和第二被检对象位于第二视场不同竖直位置的部分的波束；毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束。该成像设备通过对位于反射板相对侧处的两个被检对象同时进行成像，因而提高了检测效率且控制简单、成本低。
专利主权项内容
1.一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括准光学组件和毫米波/太赫兹波探测器阵列，所述准光学组件适用于将第一被检对象和第二被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括反射板，所述第一被检对象和所述第二被检对象分别位于所述反射板的相对侧处，所述反射板能够绕其水平轴线转动以分别接收并反射来自所述第一被检对象位于第一视场不同竖直位置的部分的毫米波/太赫兹波和所述第二被检对象位于第二视场不同竖直位置的部分的毫米波/太赫兹波；所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的毫米波/太赫兹波, 所述毫米波/太赫兹波成像设备还包括：壳体，所述准光学组件和所述毫米波/太赫兹波探测器阵列位于所述壳体内；数据处理装置，所述数据处理装置与所述毫米波/太赫兹波探测器阵列连接以分别接收来自所述毫米波/太赫兹波探测器阵列的对于所述第一被检对象的图像数据和对于所述第二被检对象的图像数据并分别生成毫米波/太赫兹波图像；以及校准源，所述校准源位于所述壳体内并在所述准光学组件的物面上，所述校准源在所述反射板的旋转方向上位于所述第一被检对象和所述第二被检对象之间，所述数据处理装置接收来自所述毫米波/太赫兹波探测器阵列的对于所述校准源的校准数据，并基于所接收的所述校准数据更新所述第一被检对象的图像数据和所述第二被检对象的图像数据。