一种存储器读取速度测量电路
申请人信息
- 申请人:紫光同芯微电子有限公司
- 申请人地址:100083 北京市海淀区五道口王庄路1号同方科技广场D座西楼18层
- 发明人: 紫光同芯微电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种存储器读取速度测量电路 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201810035251.1 |
| 申请日 | 2018年1月15日 |
| 公告号 | CN110047552B |
| 公开日 | 2024年2月2日 |
| IPC主分类号 | G11C29/12 |
| 权利人 | 紫光同芯微电子有限公司 |
| 发明人 | 唐明; 马继荣 |
| 地址 | 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-1楼一层106A |
摘要文本
紫光同芯微电子有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明提供一种存储器读出速度测量电路，所述测量电路包括读取操作电路、锁存器和二路选择器，其中，读取操作电路连接锁存器，二路选择器连接并控制锁存器，二路选择器内置内部定时信号、读取时钟和读取速度测试模式开关信号，读取操作电路读取存储器中的存储数据，并将所读取的存储数据传送给锁存器，锁存器锁存保持住所读取的存储数据。本发明在存储器内部增加一个二路选择器来控制存储器读出数据锁器，不仅实现保留原有的正常读取操作，还增加读取速度测试模式，仅通过调整存储器输入的读取时钟占空比就可以准确测量存储器的读取速度，而不受到芯片内部数据传输延时的干扰，能够精确、简单方便、低成本地实现存储器的读取速度的直接测量。
专利主权项内容
1.一种存储器读出速度测量电路，其特征在于，所述测量电路包括读取操作电路、锁存器和二路选择器，其中，读取操作电路连接锁存器，二路选择器连接并控制锁存器，二路选择器内置内部定时信号、读取时钟和读取速度测试模式开关信号，读取操作电路读取存储器中的存储数据，并将所读取的存储数据传送给锁存器，锁存器锁存保持住所读取的存储数据；存储器读取操作时，二路选择器选择内部定时信号来控制锁存器，读取速度测试模式开关信号设置为0，即锁存器控制信号等于内部定时信号，读取时钟的上升沿触发读取操作电路读取存储数据，内部定时信号在等待足够时间后，读取操作电路读出存储数据，内部定时信号产生一低电平脉冲，下降沿触发锁存器所锁存的存储数据，并输出到存储器外，完成存储器读操作；存储器读取速度测试操作时，二路选择器选择读取时钟来控制锁存器，读取速度测试模式开关信号设置为1，即锁存器控制信号等于读取时钟，读取时钟的上升沿触发读取操作电路读取存储数据，读取时钟的下降沿触发锁存器所锁存的存储数据，并输出到存储器外，完成存储器读操作；存储器读取速度测试操作时，通过调整所述读取时钟的高电平脉冲宽度，确定存储器读取错误的临界读取时间，得到存储器的读取速度；所述读取时钟的周期满足存储器外的数据传输延时要求。 马-克-数据