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一种用于集成电路芯片的测试工装

申请号: CN202420763953.2
申请人: 南京简真电子科技有限公司
更新日期: 2026-04-25

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种用于集成电路芯片的测试工装
专利类型 实用新型
申请号 CN202420763953.2
申请日 2024/4/15
公告号 CN222280695U
公开日 2024/12/31
IPC主分类号 G01R1/04
权利人 南京简真电子科技有限公司
发明人 丁修洁; 王高飞; 徐香萍; 吴迎春
地址 江苏省南京市六合区龙池街道龙中路6号

摘要文本

南京简真电子科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,马-克-数据 本实用新型公开了一种用于集成电路芯片的测试工装,包括:主机体,其中间位置处安装有检测机体,且检测机体罩设于传输带的上方;所述待测框的内部具有放置槽;所述放置槽的底壁四个拐角处均设置有对接槽,且对接槽的俯视为“L”状;其多个对接卡块分别呈矩阵式位于检测内板的四个拐角处;所述对接卡块与对接槽之间相互对接,两者相互配合呈卡合结构;该芯片的测试工装,通过在传输带上设置有多个安置组件,能够加快待测芯片的传输速度和检测后芯片的出料速度,进而当大量的芯片需要待检测时能够节约整体芯片检测的时间;同时在利用对接槽和对接卡块的对接,使得检测内板上触点与芯片触点相接触时能够提高稳定性。

专利主权项内容

1.一种用于集成电路芯片的测试工装,其特征在于,包括:
主机体(1),其中间位置处安装有检测机体(4),且检测机体(4)罩设于传输带(2)的上方;
安置组件(3),包括安装底板(31)、待测框(32)、放置槽(33)和对接槽(35),多块所述安装底板(31)均呈等间距分布固定于传输带(2)顶壁上;
每块所述安装底板(31)的顶壁上固定有待测框(32),且待测框(32)的内部具有放置槽(33);
所述放置槽(33)的底壁四个拐角处均设置有对接槽(35),且对接槽(35)的俯视为“L”状;
检测组件(9),包括检测安装板(91)、检测框(92)、触点(93)、对接卡块(94)和检测内板(95),所述检测安装板(91)通过第一电动伸缩杆(8)固定于检测机体(4)内顶壁的中间位置;
所述检测安装板(91)底壁的中间位置处固定有检测框(92);
所述检测框(92)的内部安装有检测内板(95);
所述检测内板(95)底壁的中间位置处设置有触点(93),且触点(93)的边角处分别安装于对接卡块(94), 其多个对接卡块(94)分别呈矩阵式位于检测内板(95)的四个拐角处;
所述对接卡块(94)与对接槽(35)之间相互对接,两者相互配合呈卡合结构。 (更多数据,详见)