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多通道存储芯片测试老化结构
申请人信息
- 申请人:韶关朗正数据半导体有限公司
- 申请人地址:512029 广东省韶关市武江区盛强路28号1号厂房一、二楼
- 发明人: 韶关朗正数据半导体有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 多通道存储芯片测试老化结构 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420058876.0 |
| 申请日 | 2024/1/9 |
| 公告号 | CN222281590U |
| 公开日 | 2024/12/31 |
| IPC主分类号 | G11C29/56 |
| 权利人 | 韶关朗正数据半导体有限公司 |
| 发明人 | 吴肖; 李文俊; 王亮; 周文平; 王锋 |
| 地址 | 广东省韶关市武江区盛强路28号1号厂房一、二楼 |
摘要文本
韶关朗正数据半导体有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本实用新型公开了多通道存储芯片测试老化结构，涉及存储芯片测试老化技术领域，该结构包括箱体机构和实验箱，所述箱体机构包括机身，所述机身底端固定连接支脚，所述机身正面开设有实验箱，所述试验箱用于侧视芯片，为了数据的精确性，需要对多种不同的向量数据进行测试，而目前装置在测试过程中，只能对单一向量进行测试比对，因此需要进行多次的测试，耗费更多的时间，十分影响测试效率。本实用新型通过同时设有多个实验箱，针对不同向量的环境下进行老化测试，达到了全方位获得测试数据的效果，从而减少测试周期。 （） （来 自 ）
专利主权项内容
1.多通道存储芯片测试老化结构，包括箱体机构(1)，所述箱体机构(1)包括机身(101)，所述机身(101)底端固定连接支脚(102)，其特征在于，所述机身(101)正面开设有用于测试芯片的实验箱(2)；
所述实验箱(2)至少设有三个；所述实验箱(2)表面与密封箱门(201)转动连接，所述密封箱门(201)表面固定连接门把手(202)，所述实验箱(2)内壁固定连接凸块(206)，所述凸块(206)表面滑动安装有测试板(203)；
所述测试板(203)在同一实验箱(2)内设有五个，所述测试板(203)侧面固定连接拉手(205)，所述测试板(203)表面开设有若干个卡槽(204)，所述卡槽(204)用于放置芯片，所述实验箱(2)内壁上表面固定连接温度控制器(207)与湿度控制器(208)，所述温度控制器(207)与湿度控制器(208)输入端与控制屏(103)输出端电性连接。。微信公众号马克 数据网