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一种分离平面栅低阻碳化硅VDMOS

申请号: CN202420932275.8
申请人: 泰科天润半导体科技(北京)有限公司
更新日期: 2026-04-25

摘要文本

泰科天润半导体科技(北京)有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型提供了一种分离平面栅低阻碳化硅VDMOS,包括:碳化硅衬底;漂移层,所述漂移层下侧面连接至所述碳化硅衬底的上侧面;阱区,所述阱区连接至所述漂移层,所述阱区内设有源区;低阻结构层,所述低阻结构层穿过所述阱区连接至所述漂移层;栅介质层,所述栅介质层连接至所述阱区以及低阻结构层,所述栅介质层上设有沟槽;源极金属层,所述源极金属层连接至所述阱区以及源区;栅极金属层,所述栅极金属层设于所述沟槽内,且所述栅极金属层位于低阻结构层和源区之间的阱区上方;以及,漏极金属层,所述漏极金属层连接至所述碳化硅衬底下侧面,降低了栅极控制反型区面积,进而降低了栅极电荷,降低了器件的驱动损耗。。关注公众号

专利主权项内容

1.一种分离平面栅低阻碳化硅VDMOS,其特征在于,包括:
碳化硅衬底;
漂移层,所述漂移层下侧面连接至所述碳化硅衬底的上侧面;
阱区,所述阱区连接至所述漂移层,所述阱区内设有源区;
低阻结构层,所述低阻结构层穿过所述阱区连接至所述漂移层;
栅介质层,所述栅介质层连接至所述阱区以及低阻结构层,所述栅介质层上设有沟槽;
源极金属层,所述源极金属层连接至所述阱区以及源区;
栅极金属层,所述栅极金属层设于所述沟槽内,且所述栅极金属层位于低阻结构层和源区之间的阱区上方;
以及,漏极金属层,所述漏极金属层连接至所述碳化硅衬底下侧面。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 一种分离平面栅低阻碳化硅VDMOS
专利类型 实用新型
申请号 CN202420932275.8
申请日 2024/4/30
公告号 CN222282006U
公开日 2024/12/31
IPC主分类号 H01L29/78
权利人 泰科天润半导体科技(北京)有限公司
发明人 张长沙; 陈彤; 李昀佶; 杨光锐
地址 北京市顺义区中关村科技园区顺义园临空二路1号