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一种芯粒电参数曲线测试台及测试装置

申请号: CN202420035457.5
申请人: 吉林华微电子股份有限公司
更新日期: 2026-05-18

摘要文本

吉林华微电子股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本申请公开了一种芯粒电参数曲线测试台及测试装置,涉及芯粒电参数测试技术领域,用于解决现有技术中测试芯粒的电参数曲线的效率比较低的技术问题。所述测试台包括垫板、支撑圈和探针组件,所述垫板用于放置芯粒;所述支撑圈通过支撑架安装在所述垫板的上方;所述探针组件的数量为多个,多个所述探针组件均安装在所述支撑圈上,所述探针组件与芯粒的电极电接触。本申请通过在支撑圈上设置多个探针组件,只需一个人就可以使探针组件与芯粒的多个电极接触,不需要多个人同时操作,从而可以提高对芯粒的电参数曲线的测试效率。

专利主权项内容

1.一种芯粒电参数曲线测试台,其特征在于,所述测试台包括:
垫板(1),所述垫板(1)用于放置芯粒;
支撑圈(5),所述支撑圈(5)通过支撑架(3)安装在所述垫板(1)的上方;
探针组件(4),所述探针组件(4)的数量为多个,多个所述探针组件(4)均安装在所述支撑圈(5)上,所述探针组件(4)与芯粒的电极电接触。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 一种芯粒电参数曲线测试台及测试装置
专利类型 实用新型
申请号 CN202420035457.5
申请日 2024/1/8
公告号 CN222233570U
公开日 2024/12/24
IPC主分类号 H01L21/66
权利人 吉林华微电子股份有限公司
发明人 王久峰; 王斌; 姚锐; 于浩文; 邢文超; 孟鹤; 常影
地址 吉林省吉林市高新区深圳街99号