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电性测试的测试头和电性测试电路板

申请号: CN202420533950.X
申请人: 日月光半导体制造股份有限公司
更新日期: 2026-05-18

摘要文本

日月光半导体制造股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本申请的一些实施例公开了一种电性测试的测试头,该电性测试的测试头包括:第一调整元件;第一探针固定块和第二探针固定块,第一调整元件与第一探针固定块和第二探针固定块连接;其中,通过第一调整元件调整第一探针固定块与第二探针固定块的相对位置,以改变第一探针固定块的探针容纳孔和第二探针固定块的探针容纳孔之间的间距。本实用新型提供的电性测试的测试头至少能够适应具有不同探针间距需求的电性测试。本实用新型还提供了一种电性测试电路板。

专利主权项内容

1.一种电性测试的测试头,其特征在于,包括:
第一调整元件;
第一探针固定块和第二探针固定块,所述第一调整元件与所述第一探针固定块和所述第二探针固定块连接;
其中,通过所述第一调整元件调整所述第一探针固定块与所述第二探针固定块的相对位置,以改变所述第一探针固定块的探针容纳孔和所述第二探针固定块的探针容纳孔之间的间距。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 电性测试的测试头和电性测试电路板
专利类型 实用新型
申请号 CN202420533950.X
申请日 2024/3/19
公告号 CN222233571U
公开日 2024/12/24
IPC主分类号 H01L21/66
权利人 日月光半导体制造股份有限公司
发明人 林益生; 萧友享; 曾佩玉
地址 中国台湾高雄市