← 返回列表
IC测试装置
摘要文本
禾周科技股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型提供一种用于集成电路(IC)测试的测试装置,该测试装置包含一个印刷电路板,该印刷电路板包括一测试电路。此外,该测试装置还包括一绝缘支撑结构和多个导电柱。该绝缘支撑结构具有多个通孔,用于容纳导电柱。导电柱部分嵌入在绝缘支撑结构中,并通过通孔延伸以建立IC测试的电性连接。导电柱具有弹性,使其能够适应各种大小和形状的IC。绝缘支撑结构还具有多个位于通孔旁边的凹槽,导电柱的部分嵌入其中,增强导电柱与绝缘支撑结构的稳固附着。此外,测试装置包括位于导电柱旁边的隔离层,以防止导电柱彼此接触并导致短路。
专利主权项内容
1.一种IC测试装置,其特征在于,包括:
一印刷电路板,该电路板含有一测试电路;
多个导电垫片位于该印刷电路板之上表面并与该测试电路电性连接;
多个弹性导电柱,直接整合在所述印刷电路板的所述导电垫片上。
专利申请信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | IC测试装置 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420218925.2 |
| 申请日 | 2024/1/30 |
| 公告号 | CN222145160U |
| 公开日 | 2024/12/10 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 禾周科技股份有限公司 |
| 发明人 | 余维斌; 曾劭钧 |
| 地址 | 中国台湾新竹市东区埔顶路18号1楼 |