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IC测试装置

申请号: CN202420218925.2
申请人: 禾周科技股份有限公司
更新日期: 2026-06-12

摘要文本

禾周科技股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型提供一种用于集成电路(IC)测试的测试装置,该测试装置包含一个印刷电路板,该印刷电路板包括一测试电路。此外,该测试装置还包括一绝缘支撑结构和多个导电柱。该绝缘支撑结构具有多个通孔,用于容纳导电柱。导电柱部分嵌入在绝缘支撑结构中,并通过通孔延伸以建立IC测试的电性连接。导电柱具有弹性,使其能够适应各种大小和形状的IC。绝缘支撑结构还具有多个位于通孔旁边的凹槽,导电柱的部分嵌入其中,增强导电柱与绝缘支撑结构的稳固附着。此外,测试装置包括位于导电柱旁边的隔离层,以防止导电柱彼此接触并导致短路。

专利主权项内容

1.一种IC测试装置,其特征在于,包括:
一印刷电路板,该电路板含有一测试电路;
多个导电垫片位于该印刷电路板之上表面并与该测试电路电性连接;
多个弹性导电柱,直接整合在所述印刷电路板的所述导电垫片上。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 IC测试装置
专利类型 实用新型
申请号 CN202420218925.2
申请日 2024/1/30
公告号 CN222145160U
公开日 2024/12/10
IPC主分类号 G01R31/28
权利人 禾周科技股份有限公司
发明人 余维斌; 曾劭钧
地址 中国台湾新竹市东区埔顶路18号1楼