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反向击穿电压测试仪和测试设备

申请号: CN202420625131.8
申请人: 杭州芯云半导体集团有限公司
更新日期: 2026-06-12

摘要文本

杭州芯云半导体集团有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型提供了一种反向击穿电压测试仪和测试设备,包括:电压输入模块、电流控制模块和测量模块;测量模块分别与电压输入模块和电流控制模块相连;被测晶体管的一端分别与电压输入模块和电流控制模块相连;被测晶体管的另一端与测量模块相连。该方式中,通过将万用表和可变电阻串联的方式构成电流控制模块,从而降低晶体管反向击穿电压测试的成本。 来自-数-据

专利主权项内容

1.一种反向击穿电压测试仪,其特征在于,包括:电压输入模块、电流控制模块和测量模块;所述测量模块分别与所述电压输入模块和所述电流控制模块相连;被测晶体管的一端分别与所述电压输入模块和所述电流控制模块相连;所述被测晶体管的另一端与所述测量模块相连;
所述电压输入模块,用于持续输入测量电压;
所述电流控制模块,用于根据所述测量电压调整输入至所述测量模块的测量电流,以使所述测量电流的测量电流值不超过预设测量电流值;
所述测量模块,用于测量所述被测晶体管的实时电压,当所述实时电压达到预设读取标准时,确定所述实时电压为所述被测晶体管的反向击穿电压;
所述电压输入模块,还用于当所述测量电压等于或大于所述反向击穿电压时,停止输入所述测量电压。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 反向击穿电压测试仪和测试设备
专利类型 实用新型
申请号 CN202420625131.8
申请日 2024/3/28
公告号 CN222145157U
公开日 2024/12/10
IPC主分类号 G01R31/26
权利人 杭州芯云半导体集团有限公司
发明人 丁盛峰; 阮辉; 王碧源
地址 浙江省杭州市滨江区浦沿街道六和路368号一幢(南)一楼F1066室