← 返回列表
一种基于ATE的芯片测试装置
摘要文本
济南智多晶微电子有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本实用新型公开了一种基于ATE的芯片测试装置，包括：第一测试模块、RF开关、差分时钟电路模块和第二测试模块；差分时钟电路模块用于在第二测试模块对待测试芯片进行Serdes Trim测试时产生第一差分时钟信号；第二测试模块用于根据第一差分时钟信号对待测试芯片进行Serdes Trim测试；第一测试模块和第二测试模块用于对待测试芯片进行第一类测试。根据本实用新型提供的装置，通过在装置中设置差分时钟电路模块，由差分时钟电路模块来产生差分时钟信号，使得本实用新型能够采用中低端的ATE测试机对芯片进行测试，从而能够在同一个板块上完成芯片的所有测试项目，简化对芯片的测试流程，并降低测试成本。
专利主权项内容
1.一种基于ATE的芯片测试装置，其特征在于，包括：
第一测试模块(1)；
RF开关(2)，所述RF开关(2)的输入端和所述第一测试模块(1)的输出端相连；
差分时钟电路模块(3)，所述差分时钟电路模块(3)的输出端与所述RF开关(2)的输入端相连，所述差分时钟电路模块(3)用于在第二测试模块对待测试芯片进行Serdes Trim测试时产生第一差分时钟信号；
第二测试模块(4)，所述第二测试模块(4)的输入端与所述RF开关(2)的输出端相连，所述第一测试模块(1)和所述第二测试模块(4)用于对所述待测试芯片进行第一类测试，所述第二测试模块(4)还用于根据所述第一差分时钟信号对所述待测试芯片进行Serdes Trim测试，其中，所述第一类测试不包括所述Serdes Trim测试。
专利申请信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于ATE的芯片测试装置 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420472365.3 |
| 申请日 | 2024/3/11 |
| 公告号 | CN222145165U |
| 公开日 | 2024/12/10 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 济南智多晶微电子有限公司 |
| 发明人 | 史京波; 贾弘翊; 韦嶔; 张红荣 |
| 地址 | 山东省济南市中国(山东)自由贸易试验区济南片区新泺大街1166号奥盛大厦3号楼21层2103室 |