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一种应用于ADC下极板采样的输入共模电平保护电路
申请人信息
- 申请人:灿芯半导体(上海)股份有限公司
- 申请人地址:200135 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张东路1158号礼德国际2号楼6楼
- 发明人: 灿芯半导体(上海)股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种应用于ADC下极板采样的输入共模电平保护电路 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311759460.8 |
| 申请日 | 2023/12/20 |
| 公告号 | CN117713821A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | H03M1/06 |
| 权利人 | 灿芯半导体(上海)股份有限公司 |
| 发明人 | 林志伦; 庄志青; 胡红明; 张希鹏; 周玉镇 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张东路1158号礼德国际2号楼6楼 |
摘要文本
灿芯半导体(上海)股份有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开了一种应用于ADC下极板采样的输入共模电平保护电路,包括三组开关电容,二个比较器以及相应的逻辑电路组成,二个所述比较器包括比较器i1、比较器i2;第一组开关电容由电容C1P、电容C1N,以及开关ss1、开关ss2、开关sc1、开关sc2组成;第二组开关电容由电容C2P、电容C2P,以及开关ss3、开关ss4、开关sc3、开关sc4组成;第三组开关电容由电容C3P、电容C3P,以及开关ss5、开关ss6、开关sc5、开关sc6组成。本发明中,当超出设定的共模电平范围,提出的电路输出报警信息,并在采样结束之后禁止后续的ADC转换,不会进行采样电容的翻转,因而较大的输入共模电平不会传导到电容的上极板。
专利主权项内容
1.一种应用于ADC下极板采样的输入共模电平保护电路,其特征在于,包括三组开关电容,二个比较器以及相应的逻辑电路组成,二个所述比较器包括比较器i1、比较器i2;第一组开关电容由电容C、电容C,以及开关ss1、开关ss2、开关sc1、开关sc2组成;1P1N第二组开关电容由电容C、电容C,以及开关ss3、开关ss4、开关sc3、开关sc4组成;2P2P第三组开关电容由电容C、电容C,以及开关ss5、开关ss6、开关sc5、开关sc6组成;3P3P逻辑电路包括门i3、门i4、反相器i7。