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降低BJT串联电阻对温度测量精度影响的补偿装置及方法
申请人信息
- 申请人:上海帝迪集成电路设计有限公司
- 申请人地址:200000 上海市闵行区号景路206弄3-4号8层
- 发明人: 上海帝迪集成电路设计有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 降低BJT串联电阻对温度测量精度影响的补偿装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311397852.4 |
| 申请日 | 2023/10/26 |
| 公告号 | CN117405251A |
| 公开日 | 2024/1/16 |
| IPC主分类号 | G01K7/01 |
| 权利人 | 上海帝迪集成电路设计有限公司 |
| 发明人 | 唐涛; 管锐; 靳瑞英 |
| 地址 | 上海市闵行区号景路206弄3-4号8层 |
摘要文本
上海帝迪集成电路设计有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开了一种降低BJT串联电阻对温度测量精度影响的补偿装置及方法，包含第一电流源、第二电流源、第三电流源、第四电流源、双极型晶体管、运算器和模拟数字转换器，第一电流源、第二电流源、第三电流源、第四电流源的输出端与双极型晶体管的发射极和运算器的输入端连接，运算器的输出端与模拟数字转换器的输入端连接。本发明最后测温装置可以得到无影响的与温度信息相关的VBE和ΔVBE，提高了温度测量的精度。 （来源 专利查询网）
专利主权项内容
1.一种降低BJT串联电阻对温度测量精度影响的补偿装置，其特征在于：包含第一电流源、第二电流源、第三电流源、第四电流源、双极型晶体管、运算器和模拟数字转换器，第一电流源、第二电流源、第三电流源、第四电流源的输出端与双极型晶体管的发射极和运算器的输入端连接，运算器的输出端与模拟数字转换器的输入端连接。