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一种钉头装配质量评估方法、装置、存储介质及电子设备

申请号: CN202311164453.3
申请人: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
更新日期: 2026-03-09

摘要文本

成都飞机工业(集团)有限责任公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本申请的实施例公开了一种钉头装配质量评估方法、装置、存储介质及电子设备,涉及结构光测量技术领域,包括:根据第一分割阈值对目标图像进行反向二值化,获得钉头区域掩模;根据第二分割阈值对目标图像进行分割,获得钉头周围区域掩模;根据钉头区域掩模与钉头周围区域掩模,以完成对钉头的装配质量评估。本申请通过第一阈值以内的点可以确保为钉头区域内的点,第二阈值范围能够确保所取点均在投射的光斑内且在钉头区域以外,以二者的平均值为阈值进行反向二值化,通过灰度作为阈值进行卡控,将会使钉头区域置为1,将光斑以外的区域置为0,得到钉头周围区域的掩模,能够有效分离钉头与钉头以外区域,进而提升对钉头的装配质量评估的准确性。

专利主权项内容

1.一种钉头装配质量评估方法,其特征在于,包括以下步骤:分别获得目标图像上,第一目标点的灰度平均值与第二目标点的灰度平均值;其中,所述目标图像基于对目标物进行光斑投射获得,所述目标物的被测面上具有若干钉头,所述目标图像上具有若干由所述钉头形成的圆斑,所述第一目标点为距离目标圆斑的中心距离小于第一阈值的点,所述目标圆斑为最靠近所述目标图像的中心的所述圆斑,所述第二目标点为距离所述目标圆斑的中心距离在第二阈值范围的点,所述第二阈值范围的下限大于所述第一阈值;根据第一分割阈值对所述目标图像进行反向二值化,获得钉头区域掩模;其中,所述第一分割阈值为所述第一目标点的灰度平均值与所述第二目标点的灰度平均值的均值;根据第二分割阈值对所述目标图像进行分割,获得钉头周围区域掩模;其中,所述第二分割阈值基于所述第一分割阈值缩小获得;根据所述钉头区域掩模与所述钉头周围区域掩模,进行凹凸量计算以完成对所述钉头的装配质量评估。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 一种钉头装配质量评估方法、装置、存储介质及电子设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202311164453.3
申请日 2023/9/11
公告号 CN117350951A
公开日 2024/1/5
IPC主分类号 G06T7/00
权利人 成都飞机工业(集团)有限责任公司
发明人 韩利亚; 文洲; 缑建杰; 陈代鑫; 朱绪胜
地址 四川省成都市青羊区黄田坝纬一路88号