芯片测试电路及芯片

专利主权项内容

1.一种芯片测试电路，其特征在于，包括：解码单元、组合逻辑单元以及多路复用单元；所述解码单元包括开关引脚、多个电压输入引脚以及多个电压输出引脚，所述电压输入引脚用于输入芯片的选择信号，所述解码单元用于根据各电压输入引脚的信号向对应的电压输出引脚输出高电平；所述组合逻辑单元包括多个基本单元，各基本单元的第一输入引脚与所述解码单元中各电压输出引脚一一对应连接，所述基本单元在工作状态下用于根据来自对应的电压输出引脚的电平信号产生分段线性信号；所述基本单元包括：二输入与非门以及组合逻辑链，所述二输入与非门的输出引脚还与所述组合逻辑链的输入端连接；所述组合逻辑链的输出端连接至所述二输入与非门的第二输入引脚，确保所述组合逻辑链的第一级输入与最后一级输出一致；所述多路复用单元中的信号输入引脚的数量与所述基本单元的数量一致，各信号输入引脚与对应的基本单元的输出引脚连接；所述多路复用单元用于接收所述基本单元产生的分段线性信号并输出。