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基于芯片计算的玻璃基板光三维健康检测方法及设备

申请号: CN202311847270.1
申请人: 登景(天津)科技有限公司
更新日期: 2026-03-09

摘要文本

登景(天津)科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明提供了一种基于芯片计算的玻璃基板光三维健康检测方法及设备。所述方法包括:光学摄像机对玻璃基板当前区域的图像进行采集,并将采集结果发送至图像检测芯片进行检测;若检测结果中存在瑕疵,则控制机械手旋转电机旋转,光学摄像机多次进行图像采集,并将多次采集结果发送至图像检测芯片;图像检测芯片对每次采集结果中的缺陷轮廓边缘上的最远两点进行定位,并在缺陷轮廓上确定预定数量的双点组,并计算每个双点组内双点间距离;计算每个双点组内双点间距离与最远两点距离的比值,根据比值数据集确定每次采集结果对应的缺陷类型,将占比最多的缺陷类型确定为瑕疵的缺陷类型。本发明可以有效提升玻璃基板加工生产的成品率。

专利主权项内容

1.一种基于芯片计算的玻璃基板光三维健康检测方法,其特征在于,包括:将加持在机械手前端的玻璃基板置于透光灯及光学摄像机之间,光学摄像机对玻璃基板当前区域的图像进行采集,并将采集结果发送至图像检测芯片;图像检测芯片对采集结果进行检测,若检测结果中存在瑕疵,则控制机械手旋转电机向预定方向按预定次数旋转预定角度,光学摄像机多次对玻璃基板当前区域的图像进行采集,并将多次采集结果发送至图像检测芯片;图像检测芯片对每次采集结果中的缺陷轮廓边缘上的最远两点进行定位,并在缺陷轮廓上确定预定数量的双点组,并计算每个双点组内双点间距离;计算每个双点组内双点间距离与最远两点距离的比值,根据比值数据集确定每次采集结果对应的缺陷类型,对多次采集结果对应的缺陷类型进行比对,将占比最多的缺陷类型确定为瑕疵的缺陷类型;其中,每个双点组中两点连线均与最远两点连线垂直;所述计算每个双点组内双点间距离与最远两点距离的比值,根据比值数据集确定每次采集结果对应的缺陷类型,还包括:若存在则确定当次采集结果对应的缺陷类型为漂叠状气泡组;其中,/>为第j个缺陷轮廓内第i个双点组内双点间距离与最远两点距离的比值;/>为第j个缺陷轮廓内第i个双点组中两点连线与最远两点连线的交点横坐标值;m为缺陷轮廓的数量;n为双点组内双点间距离与最远两点距离的比值变化率系数;e为自然常数。。来源:百度搜索马克数据网

专利申请信息

项目 内容
专利名称 基于芯片计算的玻璃基板光三维健康检测方法及设备
专利类型 发明授权
申请号 CN202311847270.1
申请日 2023/12/29
公告号 CN117491391B
公开日 2024/3/15
IPC主分类号 G01N21/958
权利人 登景(天津)科技有限公司
发明人 戴舒杨; 徐雅林; 王延娇
地址 天津市滨海新区天津自贸试验区(东疆综合保税区)乐山道200号铭海中心2号楼-5、6-509