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光谱仪测试标定方法、装置及设备

申请号: CN202311653113.7
申请人: 安徽创谱仪器科技有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 光谱仪测试标定方法、装置及设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202311653113.7
申请日 2023/12/5
公告号 CN117387763A
公开日 2024/1/12
IPC主分类号 G01J3/28
权利人 安徽创谱仪器科技有限公司
发明人 李朝阳; 龙延; 安宁; 马立敏; 耿继宝; 张志杰
地址 安徽省合肥市高新区皖水路228号1幢八层

摘要文本

本发明公开了一种光谱仪测试标定方法、装置及设备,属于光谱仪测试标定领域。光谱仪测试标定方法包括:获得光谱仪的波长标定曲线,波长标定曲线是通过光谱仪测量氖灯光源所得;获得光谱仪的实验数据,实验数据是通过光谱仪测量同步辐射光源所得;依次根据各实际像素值对波长标定曲线进行计算,以获得各实际像素值对应的参考波长值;对各实际像素值对应的参考波长值和实际波长值进行差值运算,得到第一差值集合,若第一差值集合中的所有差值均位于第一预设范围内,则判断波长标定成功。通过增加光谱仪对同步辐射光源的测量,并利用实验数据判断通过氖灯光源所拟合的波长标定曲线的可靠性,从而确保所获得波长标定准确,提高光谱仪使用的可靠性。

专利主权项内容

1.一种光谱仪测试标定方法,其特征在于,包括:获得光谱仪的波长标定曲线,所述波长标定曲线是通过所述光谱仪测量氖灯光源所得;获得所述光谱仪的实验数据,所述实验数据是通过所述光谱仪测量同步辐射光源所得,所述实验数据包括多个实际波长值以及各所述实际波长值对应的实际像素值;依次根据各所述实际像素值对所述波长标定曲线进行计算,以获得各所述实际像素值对应的参考波长值;对各所述实际像素值对应的所述参考波长值和所述实际波长值进行差值运算,得到第一差值集合,若所述第一差值集合中的所有差值均位于第一预设范围内,则判断波长标定成功。