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一种测温方法、装置、电子设备及存储介质
申请人信息
- 申请人:合肥金星智控科技股份有限公司
- 申请人地址:230088 安徽省合肥市高新区皖水路228号1幢生产楼
- 发明人: 合肥金星智控科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种测温方法、装置、电子设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311688112.6 |
| 申请日 | 2023/12/11 |
| 公告号 | CN117387778A |
| 公开日 | 2024/1/12 |
| IPC主分类号 | G01J5/80 |
| 权利人 | 合肥金星智控科技股份有限公司 |
| 发明人 | 申远; 王国耀; 裴有斌; 王瑞; 马庆阳 |
| 地址 | 安徽省合肥市高新区皖水路228号1幢生产楼 |
摘要文本
本发明提供一种测温方法、装置、电子设备及存储介质，该测温方法中，根据待测温目标的可见光图像去计算发射率修正系数ε，根据红外图像去计算温度T0，最后利用发射率修正系数修正计算的温度，发射率修正系数可以表征待测温目标红外辐射能力，当采取非接触测温时，测温环境的变化如烟气、粉尘、遮挡等都会直接影响到发射率修正系数，因此我们利用发射率修正系数去修正，不再局限于粉尘的影响，因此按此步骤修正得到的温度也更加准确。 更多数据：
专利主权项内容
1.一种测温方法，其特征在于，包括如下步骤：获取待测温目标的可见光图像和红外图像；根据待测温目标配准后的可见光图像计算发射率修正系数ε；根据待测温目标配准后的红外图像计算温度T；0根据公式T＝ε*T计算待测温目标的最终温度T。0