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一种表面缺陷检测方法、装置和设备

申请号: CN202311154548.7
申请人: 广东奥普特科技股份有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种表面缺陷检测方法、装置和设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202311154548.7
申请日 2023/9/7
公告号 CN117333383A
公开日 2024/1/2
IPC主分类号 G06T5/00
权利人 广东奥普特科技股份有限公司
发明人 高红超; 杜洪威; 闫笑颜
地址 广东省东莞市长安镇长安兴发南路66号之一

摘要文本

本申请实施例提供一种表面缺陷检测方法、装置和设备。在本申请实施例中,能够获取待表面缺陷检测的目标工件图像;将所述目标工件图像输入至反光估计模型中,以输出得到所述目标工件图像的反光类型,其中,所述反光估计模型为基于多个工件图像以及对应的反光类型标签训练得到的,所述反光类型包括无反光类型和有反光类型;若所述目标工件图像的反光类型为有反光类型,则通过反光擦除网络对所述目标工件图像进行抹除反光区域的修复操作;其中,所述反光擦除网络为基于多个反光工件在多个不同成像效果下的原始反光图像,以及所述多个反光工件的原始无反光图像训练得到的;将所述修复操作后的目标工件图像输入至缺陷检测网络中。

专利主权项内容

1.一种表面缺陷检测方法,其特征在于,包括:获取待表面缺陷检测的目标工件图像;将所述目标工件图像输入至反光估计模型中,以输出得到所述目标工件图像的反光类型,其中,所述反光估计模型为基于多个工件图像以及对应的反光类型标签训练得到的,所述反光类型包括无反光类型和有反光类型;若所述目标工件图像的反光类型为有反光类型,则通过反光擦除网络对所述目标工件图像进行抹除反光区域的修复操作;其中,所述反光擦除网络为基于多个反光工件在多个不同成像效果下的原始反光图像,以及所述多个反光工件的原始无反光图像训练得到的;将所述修复操作后的目标工件图像输入至缺陷检测网络中,以输出得到所述目标工件图像的表面缺陷检测结果。 更多数据:搜索马克数据网来源: